[发明专利]用污秽的温度、含水量检测绝缘子的污秽状态的方法

权利要求书

1.一种用污秽的温度、含水量检测绝缘子的污秽状态的方法，其特征在于，包括如下步骤：

(1)出厂前输入计算需要的函数或常数：σ＝f_σ(y_a)、β＝β₁(T,w)、g_V＝f_g(y_a)、y_c＝f_yc(σ)；其中，σ＝f_σ(y_a)表示污层表面电导率σ关于等效转移导纳y_a的函数，y_c＝f_yc(σ)表示等效转移导纳y_c关于表面电导率σ的函数，β＝β₁(T,w)表示电导率转换函数β关于污层温度T和污层含水量w的函数，g_V＝f_g(y_a)表示等效电导g_V关于等效转移导纳y_a的函数，y_a为由场域中截面a中的电流I_a与绝缘子电压U的比值所确定的等效转移导纳，与污层的表面电导率σ有一一对应关系，y_c为由场域中截面c中的电流I_c与绝缘子电压U的比值所确定的等效转移导纳，与污层的表面电导率σ有一一对应关系；截面a和截面c是任意的两个不同的截面。

(2)在线测定污层温度T、污层含水量w、流过截面a的电流I_a、流过截面c的电流I_c；

(3)将y_a用I_a*f_yc(σ)/I_c表示，并代入函数σ＝f_σ(y_a)中，得σ＝f_σ(I_a*f_yc(σ)/I_c)方程，进一步解该方程得绝缘子当前实测的表面电导率σ。

(4)用污层温度T、污层含水量w查函数β＝β₁(T,w)得电导率转换函数β值。

(5)将步骤(3)获得的σ除以电导率转换函数β，就可以得到在标准测量条件(T_s,w_s)下的绝缘子污层表面电导率σ_s；其中w_s为最大含水量，即污层流淌之前的含水量；T_s为一个规定值，在(T_s，w_s)下绝缘子表面电导率有最大值。

(6)设定一个标准测量条件(T_s,w_s)下绝缘子清洗临界表面电导率σ₀。

(7)绝缘子污秽状态的检测值D为D＝σ_s/σ₀，用D或D的平均值来表征绝缘子的污秽状态。

2.根据权利要求1所述的一种用污秽的温度、含水量检测绝缘子的污秽状态的方法，其特征在于，所述β₁(T,w)的获取方法如下：

当在线监测能直接测得污层温度T、污层的含水量w及污层的表面电导率σ时，取被测污区的污层试样，在污层厚度为δ、污层温度为T、含水量为w下，测得的表面电导率为σ，在标准测量条件(T_s,w_s)下的表面电导率σ_s，则用式子β＝σ/σ_s＝β₁(T,w)就可以求得电导率转换函数β₁，β₁(T,w)为以T、w作自变量的电导率转换函数，在污层中的电流线平行于污层表面的条件下δ可为任意的正值。