[发明专利]电源键测试系统与方法

说明书

本发明提供一种电源键测试系统与方法，用以侦测测试机的电源键。此方法包括：感测测试机在开机状态或关机状态；若为关机状态时，控制一单稳态计时电路导通；单稳态计时电路倒数一默认时间；以及当预设时间倒数至零，导通电源键以模拟一按压电源键动作。本发明在电子产品研发初期及出货前，增加电源键的多元测试方式，更贴近用户的操作模式，藉以发现未知的产品问题，以提升产品良率。

技术领域

本发明是有关于一种电源键测试系统与方法。

背景技术

就现有技术而言，关于电源键的测试流程，通常是使用软件搭配基本输入输出系统(Basic Input and Output，BIOS)执行，如此一来，无法真实体现并模拟用户实际按压电源键启动或唤醒机器动作，因而导致部分无法预期的问题在出货后产生。

发明内容

本发明提供一种电源键测试系统与方法，在电子产品研发初期及出货前，增加电源键的多元测试方式，更贴近用户的操作模式，藉以发现未知的产品问题，以提升产品良率。本案采用简单逻辑电路及电阻电容充放电路即可达成验证测试，成本低廉。本案亦可利用微控制单元或可程序化逻辑器件来开发设计，藉以模块化并减小体积。

本发明的一实施方式提供一种电源键测试系统，用以侦测一测试机的一电源键是否能正常使用。此电源键测试系统包括一控制模块及一模拟模块。控制模块连接至测试机，控制模块包括第一继电器，第一继电器感测测试机处于开机状态或关机状态。模拟模块耦接至控制模块，模拟模块包括一单稳态计时电路及一第二继电器。当第一继电器感测到目前测试机为关机状态时，第一继电器控制单稳态计时电路导通，单稳态计时电路倒数一默认时间。第二继电器耦接至单稳态计时电路，当单稳态计时电路倒数默认时间至零，单稳态计时电路输出一切换信号至第二继电器，第二继电器根据此切换信号导通电源键以模拟按压电源键动作。

优选地，当该第二继电器根据该切换信号导通该电源键后，该测试机为该开机状态，该第一继电器控制该单稳态计时电路为不导通。

优选地，该控制模块还包括：一第一发光单元，并联该第一继电器，当该测试机为该开机状态，该第一发光单元导通发光。

优选地，该模拟模块还包括：一第二发光单元，串联于该单稳态计时电路及该第二继电器之间，当该单稳态计时电路为导通，该第二发光单元导通发光。

优选地，该单稳态计时电路包括：一电容单元；一电阻单元，耦接至该电容单元；以及一计时单元，耦接至该电容单元及该电阻单元，当该第一继电器控制该单稳态计时电路导通后，该计时单元倒数该默认时间，其中该预设时间为该电容单元的电容值及该电阻单元的电阻值所决定。

优选地，该控制模块通过一通用串行总线端口与该测试机连接。

优选地，该模拟模块通过一通用串行总线端口与该测试机连接。

本发明的一实施方式提供一种电源键测试方法，用以侦测一测试机的电源键是否能正常使用。此方法包括：感测测试机在开机状态或关机状态；若为关机状态时，控制一单稳态计时电路导通；单稳态计时电路倒数一默认时间；以及当该单稳态计时电路倒数默认时间至零，导通电源键以模拟一按压电源键动作。

优选地，该电源键测试方法还包括：当该测试机为该开机状态，该第一继电器控制该单稳态计时电路为不导通。

优选地，该电源键测试方法还包括：该默认时间由该单稳态计时电路的一电容单元的电容值及一电阻单元的电阻值决定。

与现有技术相比，本发明具有如下的有益效果：本发明在电子产品研发初期及出货前，增加电源键的多元测试方式，更贴近用户的操作模式，藉以发现未知的产品问题，以提升产品良率。本案采用简单逻辑电路及电阻电容充放电路即可达成验证测试，成本低廉。本案亦可利用微控制单元或可程序化逻辑器件来开发设计，藉以模块化并减小体积。

附图说明