[发明专利]应用光纤通信在强电磁辐射下电子器件误触发的测试系统在审
申请号: | 201710627595.7 | 申请日: | 2017-07-28 |
公开(公告)号: | CN107390061A | 公开(公告)日: | 2017-11-24 |
发明(设计)人: | 王陶蓉;黄学功 | 申请(专利权)人: | 南京理工大学 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00;G01R29/08;G08C23/06 |
代理公司: | 南京理工大学专利中心32203 | 代理人: | 唐代盛 |
地址: | 210094 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 应用 光纤通信 电磁辐射 电子器件 触发 测试 系统 | ||
技术领域
本发明属于测试测量技术领域,特别是一种应用光纤通信在强电磁辐射下电子器件误触发的测试系统。
背景技术
随着电子计算机、信息技术、测试技术、半导体等电子电器技术的迅速发展和广泛应用,生活工作中的电子设备越来越多,电磁环境日益恶劣,对电子产品的电磁兼容性要求更高。一般情况下,电子器件的性能将决定终端成品电磁兼容的程度,尤其在高频段,电子器件本身可能就是一个干扰源或敏感部件,会带来大量电磁兼容问题。如何正确选择电子器件,并合理利用无源器件的电容、电感特性和半导体器件的响应特性,需要通过实验了解、分析电子器件在强电磁环境下受到干扰或产生干扰的因素以及机理。
目前,由于均匀强电磁场的实验环境不容易制备,大多数电磁干扰实验以电流注入实验为主,即在测试电路或电子器件端口直接注入电流,观察实验结果。实际上电子部件及器件所受的电磁干扰以电磁环境下受到的辐射为主,或者受到辐射耦合产生耦合电流注入,因此电流直接注入实验并不能完全代替辐射实验。但是通常辐射实验的实验环境为室外开阔场,能量利用率低,产生一定场强的电磁场需要比较高的能量,电磁泄露大且实验人员操作难度大。为防止电磁泄露对周围环境产生影响,电磁辐射实验最佳选择是在密闭,并且可以产生均匀、高频强电场环境下进行。GTEM小室因其工作频率宽、内部场强均匀、屏蔽效能好、能量利用率高等优点成为了电磁辐射实验的新兴选择。
实验通过测得电子器件产生误触发电信号时的电磁场强度大小,判断分析电子器件在电磁环境下失效阀值以及机理。因为实验人员不能身处强电磁辐射环境下,因此需要用导线将误触发电信号传递至电磁环境外方便实验人员观测。现有用来传输信号的为金属导线,但因金属导线会受到实验环境内电磁场影响,产生干扰电流,甚至左右实验结果,影响实验的准确性。因此一种新的信号传输方式,可以不受强电磁场干扰,准确传递误触发电信号,显得尤为重要。
发明内容
本发明所解决的技术问题在于提供一种应用光纤通信在强电磁辐射下电子器件误触发的测试系统,以解决普通金属导线在强电磁辐射环境下传输电信号容易受到干扰甚至影响实验结果准确度的问题。
实现本发明目的的技术解决方案为:
一种应用光纤通信在强电磁辐射下电子器件误触发的测试系统,包括射频信号发生器、功率放大器、GTEM小室、电-光信号转换器,场强测试仪,计算机,光-电信号转换器和示波器;
所述射频信号发生器用于产生射频信号,经功率放大器放大,传输至GTEM小室内,并用于调整射频信号大小来调整GTEM小室内电磁场强度;
所述功率放大器输入端与射频信号发生器相连,输出端与GTEM小室相连,用以将射频信号发生器产生的射频信号放大,传输至GTEM小室内;
所述GTEM小室用于形成稳定、均匀的高频强电磁场,以提供测试被测电子器件产生误触发的实验环境;
所述电-光信号转换器位于GTEM小室内,与被测电子器件相连,用以待被测电子器件受电磁场辐射后,产生误触发电信号,电-光信号转换器将电信号转换成光信号;
所述场强测试仪位于GTEM小室内,用以测量GTEM小室内实时电场强度大小;
所述计算机位于GTEM小室外,接收显示场强测试仪测量的GTEM小室内电场大小,用以实时监测GTEM小室内电场强度大小;
所述光-电信号转换器位于GTEM小室外,通过光纤与电-光信号转换器相连,用于将电-光信号转换器转换出的光信号转换成电信号;
所述示波器与光-电信号转换器相连,用于直接显示待测电子器件的误触发信号。
本发明与现有技术相比,其显著优点:
(1)利用GTEM小室形成均匀、高强电磁场对待测电子器件进行辐射实验,比电流注入实验更加符合实际情况,得到更加贴近实际情况的结果;相较于暗室实验,造价较小,更适合中小型尺寸实验对象;相较于开阔场,占地面积小,不易受外界干扰且不对外部环境造成电磁污染。
(2)利用光纤传输系统将电信号转化成不易干扰的光信号,减少了因使用电信号传输所产生的干扰,提高了实验的可靠性。
(3)利用示波器显示实验过程产生的误触发电信号,比通过密闭实验环境的透明窗直接观察实验结果,更加方便的显示实验结果。
下面结合附图对本发明作进一步详细描述。
附图说明
图1为本发明的应用光纤通信在强电磁辐射下电子器件误触发的测试系统总体结构示意图。
图2为本发明的待测电子器件误触发信号产生、电-光信号转换以及光-电信号转换原理图。
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