[发明专利]一种开放式光罩存储装置有效
申请号: | 201710607022.8 | 申请日: | 2017-07-24 |
公开(公告)号: | CN107255904B | 公开(公告)日: | 2020-11-17 |
发明(设计)人: | 杨政谕 | 申请(专利权)人: | 亚翔系统集成科技(苏州)股份有限公司 |
主分类号: | G03F1/66 | 分类号: | G03F1/66;B01D46/00 |
代理公司: | 苏州翔远专利代理事务所(普通合伙) 32251 | 代理人: | 陆金星 |
地址: | 215126 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 开放式 存储 装置 | ||
本发明公开了一种开放式光罩存储装置,包括存储箱体,所述存储箱体一侧的下部为敞口结构,该敞口结构的正上方设有出风口,由该出风口流出的气流向下运动,形成气墙并覆盖所述敞口结构;所述存储箱体内的上部设有化学过滤器、风机和空气过滤器;所述存储箱体内的下部设有至少1层光罩承载架,光罩承载架的外侧临近所述敞口结构,光罩承载架的内侧与存储箱体构成回风通道。本发明通过将存储箱体一侧的设计为敞口结构,通过该敞口结构进行光罩的拿取和存放,从而避免了现有技术中门的存在而带来的搬运不便的问题。
技术领域
本发明涉及一种存储装置,具体涉及一种开放式光罩存储装置。
背景技术
光罩,业内又称光掩模版、掩膜版,英文名称MASK或reticle,材质由石英玻璃、金属铬组成,该产品是用于将图案透过光刻工艺反复将图形复制于生产的产品上,被广泛应用于近代电子、半导体、平面显示器、LED等产业。由于光罩的图形的反复复制特性,从量产角度来看,光罩的图形,不容许有多出来或消失的图形。
当前微电子制造技术迅速发展,因此相应的产品对生产环境的要求也越来越高。对微电子制造业来说,空气中的分子级空气污染物(或气载分子污染物,简称AMC)和颗粒物一样会危害产品并直接导致成品率降低。分子级空气污染物以气态形式存在,高效空气粒子过滤器(HEPA)或者超高效空气粒子过滤器(ULPA)根本无法过滤掉AMC。所以微电子厂房内分子级空气污染的控制越来越重要。目前,AMC国际分类标准有ITRS、SEMI、ISO 14644-8和JACA 35等标准,而最常用的是SEMI(国际半导体技术与材料协会SEMI F21-1102)。标准对AMC分四类:酸性AMC(MA)、碱性AMC(MB)、凝结物AMC(MC)、及掺杂物质AMC(MD)。
上述的AMC,在光刻过程中,由于使用光波长具有一定的能量,往往会使得在光罩内的AMC分子态气体在光罩图形上形成结晶反应并沉积,进而改变光罩原有的图形。
因此,为了避免AMC对光罩的影响,出现了光罩存储装置。现有的光罩存储装置参见图1~2所示,主要包括存储箱体1,存储箱体的一侧设有门2(该门作为光罩的进出口),存储箱体的顶部设有风机3和超高效空气粒子过滤器4(以不断地将洁净空气送入存储箱体内),存储箱体的内部为光罩存放区,其可以设有多层支架5以承载光罩6。气流流动方向参见图2所示。需要移取光罩时,先打开所述的门,然后再进行搬运。然而,实际应用中发现如下问题:(1) 由于现有的光罩尺寸较大(一般为800×600mm),从门口搬运时,因为有门的存在,导致搬运不方便,最终甚至需要拆除门;(2) 由于ULPA无法过滤掉AMC,因此需要在风机入口处安装化学过滤器,然而这种做法会严重影响化学过滤器的寿命,从而导致成本较高。
因此,开发一种新的光罩存储装置,在方便搬运的同时可以大大提高化学过滤器的寿命,以降低成本,显然具有积极的现实意义。
发明内容
本发明的目的是提供一种开放式光罩存储装置。
为达到上述发明目的,本发明采用的技术方案是:一种开放式光罩存储装置,包括存储箱体,所述存储箱体一侧的下部为敞口结构,该敞口结构的正上方设有出风口,由该出风口流出的气流向下运动,形成气墙并覆盖所述敞口结构;
所述存储箱体内的上部设有化学过滤器、风机和空气过滤器;所述存储箱体内的下部设有至少1层光罩承载架,光罩承载架的外侧临近所述敞口结构,光罩承载架的内侧与存储箱体构成回风通道;
从空气过滤器出来的洁净气体由出风口向下运动,部分洁净气体流经光罩承载架进入所述回风通道,回风通道的出口与所述化学过滤器、空气过滤器连通,从而形成气流循环。
上文中,所述存储箱体一侧的下部为敞口结构,可以方便光罩的拿取和存放。
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