[发明专利]数值控制装置在审
申请号: | 201710606345.5 | 申请日: | 2017-07-24 |
公开(公告)号: | CN107656501A | 公开(公告)日: | 2018-02-02 |
发明(设计)人: | 井上哲也 | 申请(专利权)人: | 发那科株式会社 |
主分类号: | G05B19/401 | 分类号: | G05B19/401 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司11243 | 代理人: | 曾贤伟,郝庆芬 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 数值 控制 装置 | ||
1.一种对机床进行控制的数值控制装置,该机床具备:拍摄装置,其能够输出拍摄到的图像内的被指定的位置的3维坐标;以及测量器,其测量与被设置的工件的形状有关的物理量,其特征在于,
该数值控制装置具备:
用户接口部,其显示由所述拍摄装置拍摄到的图像,并接受所述图像内的指标点的指定操作,该指标点成为所述测量器测量与所述工件的形状有关的物理量时的指标;
程序生成部,其对所述图像和所述指标点的坐标进行解析,并基于分析结果锁定与所述工件的测量有关的测量项目的候补,并且,基于所述指标点的3维坐标和从所述测量项目的候补中选择出的测量项目,生成用于指令基于所述测量器的所述工件的测量动作的程序;以及
执行部,其执行所述程序。
2.根据权利要求1所述的数值控制装置,其特征在于,
所述指标点至少包括测量所述工件时的测量器的初始位置即接近点,
所述程序生成部生成用于指令所述工件的测量动作的程序,以便在测量所述工件时使测量器向所述接近点的3维坐标的位置移动。
3.根据权利要求1或2所述的数值控制装置,其特征在于,
该数值控制装置具备:测量程序存储部,其存储与多个测量项目相对应的通用的测量程序,
所述程序生成部生成用于指令所述工件的测量动作的程序,以便从所述测量程序存储部调出与从所述测量项目的候补中选择出的测量项目相对应的通用的测量程序。
4.根据权利要求1~3中任一项所述的数值控制装置,其特征在于,
所述指标点至少包括接近点和辅助点,该接近点是测量所述工件时的测量器的初始位置,该辅助点指定从所述接近点观察时的工件的测量部位的方向,
所述程序生成部对所述图像、所述接近点的坐标和所述辅助点的坐标进行解析,并基于分析结果锁定与所述工件的测量有关的测量项目的候补。
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