[发明专利]电子配件鉴别方法及装置在审
申请号: | 201710593346.0 | 申请日: | 2017-08-21 |
公开(公告)号: | CN107356834A | 公开(公告)日: | 2017-11-17 |
发明(设计)人: | 赵崇征;纪媛 | 申请(专利权)人: | 赵崇征 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00;G06K9/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100029 北京市朝阳区芍*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电子 配件 鉴别方法 装置 | ||
技术领域
本发明涉及电子配件安全检测领域,尤其涉及一种电子配件鉴别方法及装置。
背景技术
随着我国电子信息业,尤其是自主研发的国产电子类产品制造业的日渐繁荣,对各种电子配件尤其是核心电子配件的需求量日趋爆发。在此情况下,部分电子设备供应商出于经济利益或其它目的,在其提供的电子设备中使用替代产品,或者使用低成本芯片,或者在某些核心机构所使用的电子设备中采用非正规途径的电子配件作为核心部件,采用这些赝品电子配件,会降低电子设备的安全性,关键时刻电子设备可能出现严重事故,造成严重损失。
现有的电子设备检验手段主要有两种,一种是对电子设备进行整机功能测试和性能分析,通过整机测试和分析结果判断整机中是否存在赝品电子配件,鉴别准确率低,且无法判断具体哪个电子配件是赝品。另一种方法是拆机凭各电子配件的标签鉴别真伪,不仅鉴别准确率和效率低,而且拆机操作易对电子设备及其核心电子配件造成损伤。例如:针对电动汽车的整车控制器,目前的检测检验手段只能是对整车控制器进行功能和性能检测,而对于其核心部件如微控制器、供电电源芯片、驱动电路等是否为正品厂商提供的标准备件,无从检验。
发明内容
本发明提供一种电子配件鉴别方法及装置,用于解决现有技术中电子配件鉴别准确率和效率低的问题。
本发明的第一个方面是提供一种电子配件鉴别方法,包括:
对电子设备运行时,其待鉴别电子配件产生的能量泄露信号进行傅里叶变换,获得实际波形;
查询综合信息云,获得与所述待鉴别电子配件对应的标准波形的特征信息,所述标准波形为通过对安装在其它同一型号电子设备中的正品电子配件产生的能量泄露信号进行傅里叶变换获得;
根据所述标准波形的特征信息,对比所述实际波形和所述标准波形,若匹配度不小于预设的第一阈值,则判定所述待鉴别电子配件为正品。
本发明的第二个方面是提供一种电子配件鉴别装置,包括:
信号模块,用于对电子设备运行时,其待鉴别电子配件产生的能量泄露信号进行傅里叶变换,获得实际波形;
查询模块,查询综合信息云,获得与所述待鉴别电子配件对应的标准波形的特征信息,所述标准波形为通过对安装在其它同一型号电子设备中的正品电子配件产生的能量泄露信号进行傅里叶变换获得;
交互模块,用于根据所述标准波形的特征信息,对比所述实际波形和所述标准波形,若匹配度不小于预设的第一阈值,则判定所述待鉴别电子配件为正品。
本发明提供的电子配件鉴别方法及装置,通过对电子设备运行时,其待鉴别电子配件产生的能量泄露信号进行傅里叶变换,获得实际波形;查询综合信息云,获得与所述待鉴别电子配件对应的标准波形的特征信息;根据所述标准波形的特征信息,对比所述实际波形和所述标准波形,若匹配度不小于预设的第一阈值,则判定所述待鉴别电子配件为正品。本发明无需拆解电子设备即可无损、快速的鉴别其中的电子配件是否为赝品,鉴别方法高效且成本低。
附图说明
图1为本发明实施例一提供的一种电子配件鉴别方法的流程示意图;
图2为本发明实施例一提供的另一种电子配件鉴别方法的流程示意图;
图3为本发明实施例一提供的又一种电子配件鉴别方法的流程示意图;
图4为本发明实施例一提供的再一种电子配件鉴别方法的流程示意图;
图5为本发明实施例二提供的一种电子配件鉴别方法的流程示意图;
图6为本发明实施例三提供的一种电子配件鉴别装置的结构示意图;
图7为本发明实施例三提供的另一种电子配件鉴别装置的结构示意图;
图8为本发明实施例三提供的又一种电子配件鉴别装置的结构示意图;
图9为本发明实施例三提供的再一种电子配件鉴别装置的结构示意图;
图10为本发明实施例四提供的一种电子配件鉴别装置的结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明的一部分实施例,而不是全部实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
图1为本发明实施例一提供的一种电子配件鉴别方法的流程示意图。如图1所示,所述方法包括如下步骤:
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