[发明专利]电子配件鉴别方法及装置

权利要求书

1.一种电子配件鉴别方法，其特征在于，包括：

对电子设备运行时，其待鉴别电子配件产生的能量泄露信号进行傅里叶变换，获得实际波形；

查询综合信息云，获得与所述待鉴别电子配件对应的标准波形的特征信息，所述标准波形为通过对安装在其它同一型号电子设备中的正品电子配件产生的能量泄露信号进行傅里叶变换获得；

根据所述标准波形的特征信息，对比所述实际波形和所述标准波形，若匹配度不小于预设的第一阈值，则判定所述待鉴别电子配件为正品。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述综合信息云还包括：安装在不同型号电子设备中的各电子配件对应的采集位置；所述对电子设备运行时，其待鉴别电子配件产生的能量泄露信号进行傅里叶变换，获得实际波形，包括：

查询所述综合信息云，确定安装在所述电子设备中的所述待鉴别电子配件对应的采集位置；

将从所述电子设备的所述采集位置处采集的信号，作为所述能量泄露信号，并对所述能量泄露信号进行傅里叶变换，获得所述实际波形。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述标准波形的特征信息包括所述标准波形的峰值对应的频点；所述对比所述实际波形和所述标准波形，若匹配度不小于预设的第一阈值，则判定所述待鉴别电子配件为正品，包括：

获取所述实际波形在所述频点的第一特征值；

若所述频点中第一频点的数量达到预设的第二阈值，则判定所述待鉴别电子配件为正品，其中，所述实际波形在所述第一频点的第一特征值与所述标准波形在所述第一频点的特征值之差在误差范围内，且所述实际波形在所述第一频点的第一特征值为峰值。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述标准波形的特征信息包括所述标准波形在预设的多个频点的特征值；所述对比所述实际波形和所述标准波形，若匹配度不小于预设的第一阈值，则判定所述待鉴别电子配件为正品，包括：

获取所述实际波形在所述多个频点的特征值；

对比所述实际波形和所述标准波形在所述多个频点中的每个频点的特征值；

若所述多个频点中第二频点所占的比重达到预设的第三阈值，则判定所述待鉴别电子配件为正品，其中，所述实际波形在所述第二频点的特征值与所述标准波形在所述第二频点的特征值之差在误差范围内。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述查询综合信息云之前，还包括：

获取所述电子设备的设备标识；

所述查询综合信息云，获得与所述待鉴别电子配件对应的标准波形的特征信息，包括：

查询所述综合信息云，获得与所述设备标识和所述待鉴别电子配件对应的标准波形的特征信息。

6.一种电子配件鉴别装置，其特征在于，包括：

信号模块，用于对电子设备运行时，其待鉴别电子配件产生的能量泄露信号进行傅里叶变换，获得实际波形；

查询模块，查询综合信息云，获得与所述待鉴别电子配件对应的标准波形的特征信息，所述标准波形为通过对安装在其它同一型号电子设备中的正品电子配件产生的能量泄露信号进行傅里叶变换获得；

交互模块，用于根据所述标准波形的特征信息，对比所述实际波形和所述标准波形，若匹配度不小于预设的第一阈值，则判定所述待鉴别电子配件为正品。

7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述综合信息云还包括：安装在不同型号电子设备中的各电子配件对应的采集位置；所述信号模块，包括：

位置单元，用于查询所述综合信息云，确定安装在所述电子设备中的所述待鉴别电子配件对应的采集位置；

信号单元，用于将从所述电子设备的所述采集位置处采集的信号，作为所述能量泄露信号，并对所述能量泄露信号进行傅里叶变换，获得所述实际波形。

8.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述标准波形的特征信息包括所述标准波形的峰值对应的频点；所述交互模块，包括：

第一特征单元，用于获取所述实际波形在所述频点的第一特征值；

第一交互单元，用于若所述频点中第一频点的数量达到预设的第二阈值，则判定所述待鉴别电子配件为正品，其中，所述实际波形在所述第一频点的第一特征值与所述标准波形在所述第一频点的特征值之差在误差范围内，且所述实际波形在所述第一频点的第一特征值为峰值。