[发明专利]电磁错误注入攻击方法及系统

说明书

技术领域

本发明涉及测试技术领域，尤其涉及电磁错误注入攻击方法及系统。

背景技术

近年来，移动互联网发展迅速，不仅，智能终端的数量急剧增加，而且，智能终端的功能也逐步增强。然而，伴随着移动互联网业务的日益繁荣，作为业务载体的智能终端也面临越来越多的安全威胁，例如，恶意订购、账户盗取、通话监听等。同时，由于，智能终端中的各种功能应用越来越多地涉及商业秘密和个人隐私等，导致智能终端面临着严峻的安全挑战。鉴于上述问题，究其原因在于智能终端操作系统繁多，内在的安全机制差异也很大，这样，不同操作系统的智能终端面临的安全风险不同，甚至同样的操作系统，由于不同的加工过程中对其安全加固程度不同，其安全特性也会不同。

因此，对于智能终端硬件的安全分析至关重要，CPU及底层硬件上如果出现漏洞，会严重影响智能终端的安全性能。目前，对硬件的安全分析主要集中在智能卡领域。智能卡的操作系统简单，电源线和地线能够直接获得，进而通过电源线和地线来采集智能卡的功耗信号，通过分析该功耗信号能够得知智能终端中被攻击算法的时间位置。然而，智能终端很复杂，多任务操作同时存在，其电源线或地线上的功耗信号特征不明显，难以根据这两个功耗信号准确确定被攻击算法的时间位置。

而直接对智能终端进行电磁错误注入攻击测试，则容易导致其芯片进入栓锁状态，进而导致芯片发热升温，造成永久性损坏。或者是，芯片由于电磁错误注入而进入异常状态会严重影响测试效率。

综上，关于智能终端进行电磁错误注入攻击测试时效率低的问题，目前尚无有效的解决方案。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例的目的在于提供了电磁错误注入攻击方法及系统，通过逐步获取待测试芯片的敏感区域和时间位置，提高了测试过程中对敏感区域进行电磁错误注入攻击的准确性。

第一方面，本发明实施例提供了电磁错误注入攻击方法，包括：

测试平台获取待测试芯片的敏感区域；

测试平台获取敏感区域的时间位置，其中，时间位置是敏感区域运行算法相对于触发信号的时间间隔；

测试平台在时间位置对敏感区域进行电磁错误注入攻击。

结合第一方面，本发明实施例提供了第一方面的第一种可能的实施方式，其中，测试平台获取待测试芯片的敏感区域包括：

测试平台去除待测试芯片表面的环氧树脂，并对去除掉环氧树脂的待测试芯片进行抛光处理；

显微镜对待测试芯片进行放大，且，LED灯对待测试芯片进行补光；

CCD相机对待测试芯片进行成像，并确定要攻击的敏感区域。

结合第一方面的第一种可能的实施方式，本发明实施例提供了第一方面的第二种可能的实施方式，其中，测试平台获取敏感区域的时间位置包括：

PC机向待测试芯片发送指令信号；

被动电磁探头采集指令信号后敏感区域响应算法的电磁场信号，且，将电磁场信号通过示波器进行显示；

当示波器上出现与预先存储的电磁信号相同的电磁场信号时，提取电磁场信号对应的时刻，并将时刻记作时间位置。

结合第一方面的第二种可能的实施方式，本发明实施例提供了第一方面的第三种可能的实施方式，其中，测试平台在时间位置对敏感区域进行电磁错误注入攻击包括：

PC机根据时间位置发送指令给控制板修改触发信号时刻；

电磁注入平台接收所述触发信号输出窄脉冲信号；

主动电磁探头对敏感区域注入电磁错误攻击信号。

结合第一方面的第三种可能的实施方式，本发明实施例提供了第一方面的第四种可能的实施方式，其中，方法还包括：

当对同一个敏感区域多次注入电磁错误攻击信号时，PC机在相邻两次的电磁错误攻击信号注入之间加入时间延时。

结合第一方面的第三种可能的实施方式，本发明实施例提供了第一方面的第五种可能的实施方式，其中，方法还包括：

当对不同敏感区域先后注入电磁错误攻击信号时，PC机在不同敏感区域之间注入电磁错误攻击信号注入时加入时间间隔。

结合第一方面的第三种可能的实施方式，本发明实施例提供了第一方面的第六种可能的实施方式，其中，方法还包括：

测试平台测量待测试芯片运行算法的时间和重启时间；

PC机向待测试芯片发送指令运行算法；

当待测试芯片的响应时间大于运行时间和重启时间的总和时，测试平台给待测试芯片进行复位。