[发明专利]一种测量跟瞄系统干扰抑制带宽的装置及方法在审

专利信息
申请号: 201710563680.1 申请日: 2017-07-12
公开(公告)号: CN107204801A 公开(公告)日: 2017-09-26
发明(设计)人: 张亮;陈少杰;贾建军;王建宇;舒嵘 申请(专利权)人: 中国科学院上海技术物理研究所
主分类号: H04B10/071 分类号: H04B10/071
代理公司: 上海沪慧律师事务所31311 代理人: 李秀兰
地址: 200083 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 测量 系统 干扰 抑制 带宽 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种测量跟瞄系统干扰抑制带宽的装置,包括平行光管(1)、信标光激光器(2)、压电陶瓷快速反射镜(3)、压电陶瓷驱动器(4)、信号发生器(5)、被测跟瞄系统(6),其特征在于:

所述信标光激光器(2)为光纤激光器,光纤端面位于平行光管(1)的焦面处;

所述信标光激光器(2)发出的激光经过压电陶瓷快速反射镜(3)后进入平行光管(1),由平行光管(1)产生平行光束,进入被测跟瞄系统(6);

所述信号发生器(5)产生输入信号给压电陶瓷驱动器(4),驱动压电陶瓷快速反射镜(3)进行偏转运动。

2.一种基于权利要求1所述一种测量跟瞄系统干扰抑制带宽的装置的干扰抑制带宽测量方法,其特征在于包括以下步骤:

1)使用信号发生器(5)产生频率为X的正弦信号,输入给压电陶瓷驱动器(4)驱动压电陶瓷快速反射镜(3)产生频率为X,幅度为θ的摆动;信标光激光器(2)的光纤端面距离压电陶瓷快速反射镜(3)镜面的距离为L,平行光管的焦面为f,则可产生频率为X,幅度为2Lθ/f的信标光角度干扰;

2)待测跟瞄系统(6)跟踪步骤1)产生的信标光,此时的系统跟踪残差也为频率为X的正弦信号,残差对应的角度幅度为θ′;则表明在频率为X时,跟瞄系统对干扰的抑制能力为D=θ′f/(2Lθ);

3)从低频开始依次增加步骤1)中的干扰频率X,测量不同频率下待测跟瞄系统(6)对干扰的抑制能力D(X),进行数据的拟合,当D(X0)=0时,X0即为待测跟瞄系统(6)的干扰抑制带宽。

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