[发明专利]一种CT图像重建方法和装置有效

专利信息
申请号: 201710561658.3 申请日: 2017-07-11
公开(公告)号: CN107341838B 公开(公告)日: 2021-01-01
发明(设计)人: 张笛儿 申请(专利权)人: 上海联影医疗科技股份有限公司
主分类号: G06T11/00 分类号: G06T11/00
代理公司: 上海思捷知识产权代理有限公司 31295 代理人: 王宏婧
地址: 201807 *** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 ct 图像 重建 方法 装置
【说明书】:

本公开涉及一种CT图像重建方法,包括通过自适应低通插值,将非理想扇束投影数据转换为理想扇束投影数据;以及基于所述理想扇束投影数据来进行重排算法以将所述理想扇束投影数据转换为平行束形式的数据。本公开还涉及相应的CT图像重建设备、CT图像重建装置以及计算机可读介质。

技术领域

本申请一般涉及CT重建,尤其涉及针对非均匀几何结构的检测器的重建算法。

背景技术

常规计算机断层成像(Computed Tomography,CT)重建算法中的重排(rebin)算法是将扇束投影数据插值为平行束形式。然而,当检测器的几何结构不是理想扇束时,可能会发生诸如局部采样不足之类的问题,而引起条状伪影等问题。

发明内容

本公开的一个方面涉及一种CT图像重建方法,该方法可包括通过自适应低通插值,将第一组位置上的第一组扇束投影数据转换为第二组位置上的第二组扇束投影数据;以及根据所述第二位置上的第二组扇束投影数据重建CT图像,其中所述自适应低通插值包括通过插值来计算所述第二组位置中的每一个位置上的扇束投影数据,所述插值基于所述第一组扇束投影数据中紧邻该插值位置的两个位置上的两个数据,并且还基于所述第一组扇束投影数据中除所述两个位置以外离该插值位置最近的至少一个其他位置上的数据。

在该方面的一示例性而非限定性的实施例中,所述第一组位置可包括检测器的测量位置,而所述第二组位置包括由系统设计参数确定的理想位置。

在该方面的另一示例性而非限定性的实施例中,该方法可以进一步包括在所述自适应低通插值之后,进一步进行重构高通滤波以得到所述第二组扇束投影数据。

在该方面的又一示例性而非限定性的实施例中,该方法可以进一步包括基于所述第二组扇束投影数据来进行重排算法以将所述第二组扇束投影数据转换为平行束形式的数据。

在该方面的再一示例性而非限定性的实施例中,所述重构高通滤波可被合并到所述重排算法中。

在该方面的进一步示例性而非限定性的实施例中,所述重构高通滤波可与所述自适应低通插值被合并为带通自适应插值。

在该方面的再一示例性而非限定性的实施例中,所述自适应低通插值可包括高阶插值算法。

本公开的其他方面涉及相应的CT图像重建设备、CT图像重建装置、以及存储有计算机程序代码的计算机可读介质。

附图说明

图1是现有技术的重建算法的流程图;

图2是根据本发明一示例性实施例的重建算法的流程图;

图3是根据本发明一示例的插值中的几何关系的示图;

图4是根据现有技术的线性插值的高频通过特性的标绘图;

图5是根据本发明一示例性实施例的线性插值的高频通过特性的标绘图;

图6是根据本发明一变化例的重建算法的流程图。

具体实施方式

现在参照附图描述各个方面。在以下描述中,出于解释目的阐述了众多具体细节以提供对一个或多个方面的透彻理解。然而,明显的是,没有这些具体细节也可实践此种(类)方面。

本发明提出了一种针对非均匀几何结构的检测器的重建算法,可改善由于非均匀几何结构引起的图像质量问题。尤其,本发明采用了一种自适应滤波插值算法,将非理想扇束投影数据插值成理想扇束之后再rebin成平行束。可以减弱由于局部采样不足引起的条状伪影,改善图像质量。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海联影医疗科技股份有限公司,未经上海联影医疗科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201710561658.3/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top