[发明专利]天线近场测试方法及装置

说明书

本发明提供了一种天线近场测试方法及装置，包括步骤：通过探头对天线进行采样，获取天线的第一近场分布数据；根据所述第一近场分布数据进行数学变换，获取天线的远场方向图；对所述天线的远场方向图进行数学逆变换，获取天线的第二近场分布数据。通过本发明所提供的技术方案，在对天线进行采样获取到天线的第一近场分布数据后，对所述第一近场分布数据进行数学变换获取天线的远场方向图，再对所述远场方向图进行数学逆变换获取天线的第二近场分布数据。通过一次近远场变换和一次远近场变换，修正了近场测试中采样间距为不等间距时所产生的测试误差，提高了近场测试的准确度，基于此降低近场测试对伺服系统的精度要求。

技术领域

本发明涉及天线测试技术领域，特别是涉及一种天线近场测试方法及装置。

背景技术

微波天线方向图测试方法有近场测试、远场测试、紧缩场测试三种方法。近场测试相比其它两种测试方法在场地需求、空域测试覆盖性、测试效率、测试精度等方面都更多优势，所以天线近场测试正在逐渐成为主流的测试方法。天线近场测试是一种采用高精度伺服系统，驱动采样探头，采集天线近场分布数据，再通过快速傅里叶变换进行近远场变换，获取全空域辐射方向图性能的测试方法。

现有的测试方法，要求伺服系统能够精确驱动采样探头的位置，形成等间距近场采样栅格，才能用快速傅里叶变换算法计算远场方向图。其中探头定位的随机误差不可超过1％波长，而系统误差的精度要求更高。目前是在伺服系统的设计中，对系统设计、运动补偿、电机精度、传动精度等方面做了精细的设计，以满足探头定位精度的需求。

但是，现有的测试方法对伺服系统精度要求较高，使得伺服系统构造复杂，造成伺服系统的成本较高。

发明内容

基于此，有必要针对现有的测试方法对伺服系统精度要求较高，使得伺服系统构造复杂和成本较高等缺陷，提供一种天线近场测试方法及装置。

本发明所提供的技术方案如下：

一种天线近场测试方法，包括步骤：

通过探头对天线进行采样，获取天线的第一近场分布数据。

根据所述第一近场分布数据进行数学变换，获取天线的远场方向图。

对所述天线的远场方向图进行数学逆变换，获取天线的第二近场分布数据。

一种天线近场测试装置，包括：

采样模块，用于通过探头对天线进行采样，获取天线的第一近场分布数据。

近远场变换模块，用于根据所述第一近场分布数据进行数学变换，获取天线的远场方向图。

远近场变换模块，用于对所述天线的远场方向图进行数学逆变换，获取天线的第二近场分布数据。

一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序程序时实现所述天线近场测试方法的步骤。

一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现所述天线近场测试方法的步骤。

通过本发明所提供的技术方案，在对天线进行采样获取到天线的第一近场分布数据后，对所述第一近场分布数据进行数学变换获取天线的远场方向图，再对所述远场方向图进行数学逆变换获取天线的第二近场分布数据。通过一次近远场变换和一次远近场变换，修正了近场测试中采样间距为不等间距时所产生的测试误差，提高了近场测试的准确度，基于此降低近场测试对伺服系统的精度要求。

附图说明

图1为天线近场测试方法的方法流程图；

图2为一优选实施例的天线近场测试方法的方法流程图；