[发明专利]天线近场测试方法及装置有效
申请号: | 201710551829.4 | 申请日: | 2017-07-07 |
公开(公告)号: | CN107247193B | 公开(公告)日: | 2020-05-08 |
发明(设计)人: | 苏道一 | 申请(专利权)人: | 广东曼克维通信科技有限公司 |
主分类号: | G01R29/10 | 分类号: | G01R29/10 |
代理公司: | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人: | 黄隶凡 |
地址: | 510000 广东省广州市广州*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 天线 近场 测试 方法 装置 | ||
1.一种天线近场测试方法,其特征在于,包括步骤:
通过探头对天线进行采样,获取天线的第一近场分布数据;
根据所述第一近场分布数据进行数学变换,获取天线的远场方向图;
其中,所述数学变换为快速傅里叶变换;所述根据所述第一近场分布数据进行数学变换,获取天线的远场方向图的过程,包括步骤:
根据预设采样间距通过快速傅里叶变换获取天线的远场方向图角度;其中,将所述预设采样间距代入快速傅里叶变换的算法公式中,获取快速傅里叶变换的计算角度,作为天线的远场方向图角度;所述算法公式为:
其中,θ为所述远场方向图角度,N为快速傅里叶变换算法点数,d为所述预设采样间距,λ为天线波长,n的取值范围为[0,N-1];
根据所述远场方向图角度与所述第一近场分布数据获取天线的远场方向图;其中所述第一近场分布数据为一个或多个采样点的位置坐标;获取所述远场方向图的计算公式为:
其中,x为所述一个或多个采样点的位置坐标,X为近场采样范围;对所述天线的远场方向图进行数学逆变换,获取天线的第二近场分布数据。
2.根据权利要求1所述的天线近场测试方法,其特征在于,所述通过探头对天线进行采样的采样间距小于二分之一天线波长。
3.根据权利要求1所述的天线近场测试方法,其特征在于,所述数学逆变换为快速傅里叶逆变换。
4.根据权利要求1所述的天线近场测试方法,其特征在于,所述通过探头对天线进行采样,获取天线的第一近场分布数据的过程,包括步骤:
通过探头对天线进行采样,获取一个或多个采样点的位置信息;
根据所述位置信息获取天线的第一近场分布数据。
5.根据权利要求1所述的天线近场测试方法,其特征在于,还包括步骤:
根据所述远场方向图和所述第二近场分布数据获取所述天线的全空域辐射方向图。
6.一种天线近场测试装置,其特征在于,包括:
采样模块,用于通过探头对天线进行采样,获取天线的第一近场分布数据;
近远场变换模块,用于根据所述第一近场分布数据进行数学变换,获取天线的远场方向图;其中,所述数学变换为快速傅里叶变换;
所述近远场变换模块还包括角度获取模块和远场方向图获取模块:
角度获取模块,用于根据预设采样间距通过快速傅里叶变换获取天线的远场方向图角度;其中,将所述预设采样间距代入快速傅里叶变换的算法公式中,获取快速傅里叶变换的计算角度,作为天线的远场方向图角度;所述算法公式为:
其中,θ为所述远场方向图角度,N为快速傅里叶变换算法点数,d为所述预设采样间距,λ为天线波长,n的取值范围为[0,N-1];
远场方向图获取模块,用于根据所述远场方向图角度与所述第一近场分布数据获取天线的远场方向图;其中所述第一近场分布数据为一个或多个采样点的位置坐标;获取所述远场方向图的计算公式为:
其中,x为所述一个或多个采样点的位置坐标,X为近场采样范围;
远近场变换模块,用于对所述天线的远场方向图进行数学逆变换,获取天线的第二近场分布数据。
7.一种计算机设备,包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述计算机程序程序时实现权利要求1-5任意一项所述方法的步骤。
8.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1-5任意一项所述方法的步骤。
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