[发明专利]一种测量85Kr的内充气探测器有效

专利信息
申请号: 201710548485.1 申请日: 2017-07-07
公开(公告)号: CN107272044B 公开(公告)日: 2019-01-15
发明(设计)人: 曾军;王红侠;向永春;郝樊华;迮仁德;向清沛;罗飞;胡根 申请(专利权)人: 中国工程物理研究院核物理与化学研究所
主分类号: G01T1/203 分类号: G01T1/203
代理公司: 中国工程物理研究院专利中心 51210 代理人: 翟长明;韩志英
地址: 621999 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 测量 85 kr 充气 探测器
【权利要求书】:

1.一种测量85Kr的内充气探测器,包括阀门(2)、屏蔽体(4)、不锈钢外壳(5)、塑料闪烁体(8)、光耦合剂(9)、紧固接口(10)、阻尼硅胶(11)、光电倍增管(12)、集成核电子学模块(13),其特征在于:还包括进样与流洗通道(3)、密闭样品室(6)、反射隔离膜(7);所述阀门(2)安装在进样与流洗通道(3)上;所述密闭样品室(6)位于不锈钢外壳(5)和塑料闪烁体(8)之间;所述反射隔离膜(7)蒸镀在塑料闪烁体(8)表面,将密闭样品室(6)和塑料闪烁体(8)隔开;所述光电倍增管(12)通过光耦合剂(9)与塑料闪烁体(8)耦合,其后端连接集成核电子学模块(13);所述屏蔽体(4)包裹在整个探测器的外层。

2.根据权利要求1所述的测量85Kr的内充气探测器,其特征在于:所述密闭样品室(6)形状为圆台形,进样一端小于测量一端。

3.根据权利要求1所述的测量85Kr的内充气探测器,其特征在于:所述不锈钢外壳(5)与塑料闪烁体(8)通过粘合剂和机械压合的形式密封连接。

4.根据权利要求1所述的测量85Kr的内充气探测器,其特征在于:所述塑料闪烁体(8)的厚度为3mm~8mm。

5.根据权利要求1所述的测量85Kr的内充气探测器,其特征在于:所述反射隔离膜(7)为原子沉积法制备的致密金属复合膜,膜层厚度为300nm~500nm。

6.根据权利要求1所述的测量85Kr的内充气探测器,其特征在于:所述屏蔽体(4)采用多层复合结构,从外到内依次为不锈钢支架、铅、镉、无氧铜、聚乙烯。

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