[发明专利]一种综合保护电路、综合保护装置及塑封装置有效
申请号: | 201710543164.2 | 申请日: | 2017-07-05 |
公开(公告)号: | CN107196273B | 公开(公告)日: | 2020-09-15 |
发明(设计)人: | 杨友林;陈勤华 | 申请(专利权)人: | 上海一旻成峰电子科技有限公司 |
主分类号: | H02H7/20 | 分类号: | H02H7/20;H02H3/08;H02H5/04 |
代理公司: | 上海申新律师事务所 31272 | 代理人: | 俞涤炯 |
地址: | 201900 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 综合 保护 电路 保护装置 塑封 装置 | ||
本发明公开了一种综合保护电路、综合保护装置及塑封装置,所述综合保护电路包括输入保护电路、过温保护电路和过流短路保护电路;输入保护电路的输入端连接IGBT电力半导体器件的输入控制电压,输入保护电路的输出端连接过温保护电路的输入端;过温保护电路的输出端连接过流短路保护电路的输入端;过流短路保护电路的输出端连接IGBT电力半导体器件的输入端。上述技术方案具有如下优点或有益效果:真正实现不依靠外围电路,直接从IGBT芯片封装成的器件完成综合精准保护,提高了IGBT电力半导体器件的功率密度和可靠性。
技术领域
本发明涉及IGBT电力半导体器件领域,尤其涉及一种综合保护电路、综合保护装置及塑封装置。
背景技术
目前IGBT电力半导体器件失效、损坏主要形式有过温、过流和短路。造成IGBT电力半导体器件过温损坏的是器件的热疲劳现象,原因有散热设计不当,驱动电路设计不合理,外界负载发生的变化等。形成IGBT电力半导体器件过流、短路损坏的原因是负载绝缘不良,外界杂物引起的桥路短路和感性负载发生的关断峰值电压等。以上的失效损坏形式已经包含了IGBT电力半导体器件的95%以上的失效损坏范围。
特别需要注意的是IGBT电力半导体器件在组成多芯片联合工作,如逆变、变频,交-直-交3电平PWM大容量变频传动装置时,只要有一个IGBT电力半导体器件损坏,就会引起整体模块的损坏。
IGBT电力半导体器件必定是长期、高可靠工作,以确保安全。当前一般都在电力半导体器件外围设置一些驱动电路,包括各种保护电路。但此类驱动电路或者专业IC驱动器并不与IGBT电力半导体器件在同一物理环境下工作。因此对器件所产生的各种失效损坏感应速度,综合处理能力等存在不一致性。
发明内容
本发明针对现有技术的局限性,提供一种综合保护电路、综合保护装置及塑封装置,应用于IGBT电力半导体器件,旨在真正实现不依靠外围电路,直接从IGBT芯片封装成的器件完成综合精准保护,提高IGBT电力半导体器件的功率密度和可靠性。
上述技术方案具体包括:
一种综合保护电路,应用于IGBT电力半导体器件,其中,包括输入保护电路、过温保护电路和过流短路保护电路;
所述输入保护电路的输入端连接所述IGBT电力半导体器件的输入控制电压,所述输入保护电路的输出端连接所述过温保护电路的输入端;
所述过温保护电路的输出端连接所述过流短路保护电路的输入端;
所述过流短路保护电路的输出端连接所述IGBT电力半导体器件的输入端;
所述输入保护电路用于保护所述IGBT电力半导体器件的所述输入控制电压;
所述过温保护电路用于避免所述IGBT电力半导体器件的工作结温快速上升;
所述过流短路电路用于使所述IGBT电力半导体器件在出现过流或短路现象时不被损坏。
较佳的,上述综合保护电路中,所述输入保护电路包括;
P沟道场效应管,所述P沟道场效应管的漏极连接所述输入保护电路的所述输入端,源极连接所述输入保护电路的所述输出端,栅极连接一第一节点;
所述N沟道场效应管的漏极连接所述输入保护电路的所述输入端,源极连接所述输入保护电路的所述输出端;
第一电阻,连接在所述输入保护电路的所述输入端和所述第一节点之间;
第二电阻,连接在所述输入保护电路的所述输出端和第一节点之间。
较佳的,上述综合保护电路中,所述过温保护电路包括:
负温度传感器,一端连接所述输入保护电路的所述输出端,另一端连接一第二节点;
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