[发明专利]测量装置

说明书

本发明涉及一种测量装置。该测量装置包括底板、安装块、测量头及测试块。安装块设置于底板上，安装块开设有贯穿孔。测量头设置于底板上，且测量头与安装块沿贯穿孔的轴向方向间隔设置。测试块的一端用于插设于贯穿孔内，且测试块插设于贯穿孔内时，测试块位于安装块与测量头之间。测量装置测量光学部件时，光学部件的准直头与安装块相连接，准直头的通孔与贯穿孔相连通。光学部件测量时，准直头与安装块相连接，可以避免准直头上的光学镜片长时间裸露在空气中，能够防止光学镜片被污染。

技术领域

本发明涉及光学元件测量技术领域，特别是涉及一种测量装置。

背景技术

光学部件在生产完成之后，需要对光学部件进行测量，检测光学部件中的激光头与准直头之间的同轴度是否符合要求。光学部件中的光学镜片容易被污染和损坏，因此处理光学镜片时应格外小心。但是，在光学部件的测量中，不可避免地将光学镜片长时间裸露在空气，容易将光学镜片污染。

发明内容

基于此，有必要针对光学部件测量时，光学镜片易污染的问题，提供一种测量装置。

一种测量装置，包括：

底板；

安装块，设置于所述底板上，所述安装块开设有贯穿孔；

测量头，设置于所述底板上，且所述测量头与所述安装块沿所述贯穿孔的轴向方向间隔设置；及

测试块，所述测试块的一端用于插设于所述贯穿孔内，且所述测试块的一端插设于所述贯穿孔内时，所述测试块位于所述安装块与所述测量头之间；

其中，所述测量装置测量光学部件时，所述光学部件的准直头与所述安装块相连接，所述准直头的通孔与所述贯穿孔相连通。

在其中一个实施例中，所述安装块开设固定孔，所述准直头的外侧壁突出形成连接块，所述连接块开设有安装孔，紧固件依次穿设于所述安装孔与所述固定孔内，以将所述准直头与所述安装块相连接。

在其中一个实施例中，所述连接块上开设有第一定位孔，所述安装块还开设有第二定位孔，定位件依次穿设于所述第二定位孔内与所述第一定位孔内，以定位所述准直头。

在其中一个实施例中，所述准直头插设于所述贯穿孔内，以将所述准直头与所述安装块相连接。

在其中一个实施例中，还包括球头柱塞，所述安装块开设有柱塞孔，所述柱塞孔与所述贯穿孔相连通，所述球头柱塞的一端穿过所述柱塞孔伸入所述贯穿孔内，所述准直头插设于所述贯穿孔内时，所述球头柱塞的一端与所述准直头的侧壁相抵。

在其中一个实施例中，所述准直头的外径等于所述贯穿孔的直径。

在其中一个实施例中，还包括支撑块，所述支撑块设置于所述底板上，所述支撑块用于支撑所述光学部件。

在其中一个实施例中，还包括防尘罩，所述防尘罩设置于所述底板上，所述防尘罩开设有容纳腔，所述防尘罩的两端分别与所述安装孔及所述测量头相连接，所述安装块的贯穿孔与所述容纳腔相连通。

在其中一个实施例中，还包括盖板，所述防尘罩的侧壁开设有开口，所述开口与所述容纳腔相连通，所述盖板可滑动地设置于所述防尘罩上，所述盖板用于覆盖所述开口。

在其中一个实施例中，所述防尘罩两端的端面分别开设有第一连接孔及第二连接孔，所述第一连接孔及第二连接孔均与所述容纳腔相连通，所述安装块的一端插设于所述第一连接孔内，所述测量头的一端插设于所述第二连接孔内，以将所述防尘罩的两端分别与所述安装块及所述测量头相连接。

在其中一个实施例中，所述第一连接孔的侧壁与所述第二连接孔的侧壁均设置有防尘带。

上述测量装置至少具有以下优点：