[发明专利]一种小间距测试探针模组在审

专利信息
申请号: 201710531204.1 申请日: 2017-07-03
公开(公告)号: CN109212281A 公开(公告)日: 2019-01-15
发明(设计)人: 黄勇;雷艳清 申请(专利权)人: 上海承盛电子科技有限公司
主分类号: G01R1/073 分类号: G01R1/073
代理公司: 北京易光知识产权代理有限公司 11596 代理人: 李韵
地址: 201612 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 针杆 针头 测试探针 模组 测试 弹簧 探针 钻孔 高频率信号 测试效率 技术要求 减少材料 人工成本 被测物 通过率 针管壁 针管 组装 局限
【说明书】:

发明公开了一种小间距测试探针模组,由模块、弹簧、针杆、上针头、下针头组成,所述模块上设置钻孔,在钻孔内安装针杆,所述针杆内设置弹簧,所述针杆的上部设置上针头,所述针杆的下部设置下针头;本发明提供的小间距测试探针模组,解决目前被测物间隔过小不能测试的问题,大大减少材料/人工成本,提高了测试精度和一次测试通过率;大幅度提高测试效率;突破针管壁厚太薄的局限,便于组装;突破针管对探针长度的限制;突破探针过高频率信号的技术要求。

技术领域

本发明涉及测试探针,进一步说,尤其涉及一种小间距测试探针模组。

背景技术

现有技术的模组由探针(针管、弹簧和针头)和模块组成,探针装在模块内,探针上针头接触被测物,下针头接电路板导出信号。该结构采用上、下针板钻孔,利用台阶差来固定探针进行测试,这种设计模式必须使用带有内管的双头探针。

目前市场上测试模组是由探针和模块组成,不能对结构复杂、间隙小的产品进行测试;无法组装针管直径小于0.1mm的探针;针管太细,导致针管内部电镀不均匀;总长小于2mm探针装配困难,导致探针无法测试一些电学,高频率信号,因为探针本身工艺的限制,使用的内管有时无法满足小pitch测试,故而无法满足更小间距的测试。

发明内容

本发明为解决上述技术问题而采用的技术方案是提供一种小间距测试探针模组,其中,具体技术方案为:

由模块、弹簧、针杆、上针头、下针头组成,所述模块上设置钻孔,在钻孔内安装针杆,所述针杆内设置弹簧,所述针杆的上部设置上针头,所述针杆的下部设置下针头。

上述的小间距测试探针模组,其中,其制作方法是:

第一步:在板材上钻取对应针杆、上针头、下针头尺寸的孔;

第二步:给板材上开设的针杆、上针头、下针头孔内电镀金或者板材内敲入薄铜管;

第三步:将配件、上针头、弹簧、下针头装入模块里。

本发明相对于现有技术具有如下有益效果:

本发明提供的一种小间距测试探针模组,降低材料成本,提高测试灵活性;测试小间距、高频率信号源;解决微小探针的装配难题。

附图说明

图1为现有技术中小间距测试探针模组的结构示意图。

图2为本发明提供的一种小间距测试探针模组的结构示意图。

图3为本发明提供的一种小间距测试探针模组的结构示意图。

图4为本发明提供的一种小间距测试探针模组的结构示意图。

图中:

1上针头 2针管 3下针头 4上针板 5中层针板 6下针板 7被测引脚 8PCB板 9焊锡连接处

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本发明作进一步的描述。

本发明提供了一种小间距测试探针模组,技术优势主要体现在如下几个方面:解决目前被测物间隔过小不能测试的问题,大大减少材料/人工成本,提高了测试精度和一次测试通过率;大幅度提高测试效率;突破针管壁厚太薄的局限,便于组装;突破针管对探针长度的限制;突破探针过高频率信号的技术要求。

本发明提供了一种小间距测试探针模组,由模块、弹簧、针杆、上针头、下针头组成,所述模块上设置钻孔,在钻孔内安装针杆,所述针杆内设置弹簧,所述针杆的上部设置上针头,所述针杆的下部设置下针头。

所述的小间距测试探针模组,其制作方法是:

第一步:在板材上钻取对应针杆、上针头、下针头尺寸的孔;

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