[发明专利]一种半导体晶圆凸块电阻测试装置在审
申请号: | 201710529226.4 | 申请日: | 2017-07-01 |
公开(公告)号: | CN109212315A | 公开(公告)日: | 2019-01-15 |
发明(设计)人: | 黄涛;袁泉;孙健;张慧;朱威莉;韩伟 | 申请(专利权)人: | 江苏纳沛斯半导体有限公司 |
主分类号: | G01R27/02 | 分类号: | G01R27/02;G01R1/04 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 223002 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 上端 工作台 显示屏 电阻测试装置 半导体晶圆 导电端子 平行布置 滑轨 凸块 测量 夹具 操作界面 弹性结构 对称设置 工作效率 晶圆结构 内部设置 嵌入设置 竖直布置 旋转收纳 占用空间 测量架 后侧板 活动式 检测筒 透光板 箱盖 直尺 侧面 携带 | ||
本发明公开了一种半导体晶圆凸块电阻测试装置,包括箱盖和箱体,所述箱体的上端设置有工作台,所述工作台的上端对称设置有两个平行布置的滑轨,所述滑轨之间设置有两个平行布置的直尺,所述工作台内部设置有LED灯,所述LED灯的上端设置有透光板,所述工作台的一端侧面嵌入设置有显示屏,所述显示屏的一侧设置有操作界面,所述箱体上端远离显示屏的一侧设置有竖直布置的后侧板。本发明采用活动式的测量架结构,检测筒便于旋转收纳在箱体中,较少了占用空间,便于操作和携带,设置了夹具式的导电端子,导电端子的弹性结构便于测量不同的晶圆结构,提高测量的准确定,提高工作效率。
技术领域
本发明涉及电阻测试技术领域,具体为一种半导体晶圆凸块电阻测试装置。
背景技术
电阻测试仪,是测量物体导电性的一种仪器,电阻测试仪被广泛的应用于电气安全检查与接地工程竣工验等场合。电阻测试仪的种类比较多,包括接地电阻测试仪、绝缘电阻测试仪、接地电阻测试仪、直流电阻测量仪、表面电阻测试仪以及回路电阻测试仪。直流电阻测试仪是新一代变压器直流电阻的测试仪器,它能根据不同型号的电力变压器自动选择测试电流,以最快的速度显示测试结果。直流电阻测试仪并且具有存储、打印、放电指示等功能,内置不掉电存储器,可长期保存测量数据,液晶显示器的采用使得该仪器人机界面良好,是直流电阻测试工作中的首选设备。
但是,现有技术中的电阻测试仪,特别是用于测量半导体晶圆凸块的电阻测试仪,其结构单一,对晶圆凸块的测试不便于固定和测量,使用不便,而且传统的电阻测试仪体积较大,不便于携带,使用操作较为困难,工作效率低下。
发明内容
本发明的目的在于提供一种半导体晶圆凸块电阻测试装置,以解决上述背景技术中提出的结构单一,对晶圆凸块的测试不便于固定和测量,使用不便,而且传统的电阻测试仪体积较大,不便于携带,使用操作较为困难,工作效率低下的问题。
为实现上述目的,本发明提供如下技术方案:一种半导体晶圆凸块电阻测试装置,包括箱盖和箱体,所述箱体的上端设置有工作台,所述工作台的上端对称设置有两个平行布置的滑轨,所述滑轨之间设置有两个平行布置的直尺,所述工作台内部设置有LED灯,所述LED灯的上端设置有透光板,所述工作台的一端侧面嵌入设置有显示屏,所述显示屏的一侧设置有操作界面,所述箱体上端远离显示屏的一侧设置有竖直布置的后侧板,所述后侧板通过铰链转动连接有箱盖,所述箱盖内部位于铰链上端位置处设置有固定板,所述固定板的中心位置处设置有立柱,所述立柱上端套有套筒,所述套筒上端设置有支架,且套筒上端位于支架的一侧设置有紧固旋钮,所述支架的另一端设置有检测筒,所述检测筒的下端通过转筒转动连接有夹具,所述夹具对称设置有两个,且两个夹具分别通过弹簧对称连接有两个导电端子,所述固定板靠近工作台的一侧通过转轴连接有固定杆,所述箱体的内部设置有恒流电源,所述恒流电源的一侧设置有STC89C52RC单片机,所述STC89C52RC单片机的一侧设置有AD9200转换器,所述AD9200转换器的一侧设置有储存器,所述LED灯、STC89C52RC单片机、AD9200转换器、导电端子、显示屏均与恒流电源电性连接。
进一步的,所述检测筒垂直于支架设置,所述支架垂直于立柱设置,所述立柱垂直于固定板设置。
进一步的,所述固定杆对称设置有两个,且固定杆的长度与固定板到箱体之间的距离相等。
进一步的,所述直尺与滑轨之间垂直设置。
进一步的,所述支架的长度小于箱盖长度值的一半。
与现有技术相比,本发明的有益效果是:
(1)本发明采用活动式的测量架结构,检测筒便于旋转收纳在箱体中,较少了占用空间,便于携带,同时便于操作。
(2)本发明设置有夹具式的导电端子,导电端子的弹性结构便于测量不同的晶圆结构,提高测量的准确定,提高工作效率。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于江苏纳沛斯半导体有限公司,未经江苏纳沛斯半导体有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201710529226.4/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种便于使用的电阻测试仪
- 下一篇:电动车绝缘性能快速检测装置