[发明专利]电子计算机断层扫描图像数据处理系统有效

专利信息
申请号: 201710526757.8 申请日: 2017-06-30
公开(公告)号: CN107330952B 公开(公告)日: 2020-11-27
发明(设计)人: 杨耀 申请(专利权)人: 上海联影医疗科技股份有限公司
主分类号: G06T11/00 分类号: G06T11/00
代理公司: 成都七星天知识产权代理有限公司 51253 代理人: 杨永梅
地址: 201807 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 电子计算机 断层 扫描 图像 数据处理系统
【权利要求书】:

1.一种系统,包括:

一个扫描仪,所述扫描仪包括准直器,所述准直器的准直宽度是可调节的;

一个或多个存储设备,包括用于图像数据处理的指令集;以及至少一个处理器被配置为与一个或多个存储设备通信,当其执行所述指令集时,所述至少一个处理器被配置为使所述系统:

获取校正系数与准直宽度之间的关系;

获取所述准直器的目标准直宽度;以及

基于所述目标准直宽度和所述校正系数与准直宽度之间的关系,确定目标校正系数;

其中,为了获得校正系数与准直宽度之间的关系,所述至少一个处理器被配置为使所述系统:

获取第一校正系数,所述第一校正系数对应于所述准直器的第一准直宽度;

获取散射辐射强度与准直宽度之间的关系;以及

基于所述第一校正系数、所述第一准直宽度和所述散射辐射强度与准直宽度之间的关系,确定校正系数与准直宽度之间的关系。

2.根据权利要求1所述的系统,所述至少一个处理器被配置为使所述系统:

获取与在所述目标准直宽度下进行的扫描有关的图像数据;以及

基于所述目标校正系数,修改所述图像数据。

3.根据权利要求1所述的系统,其中,所述至少一个处理器被配置为使所述系统将所述已确定的校正系数与准直宽度之间的关系保存到所述一个或多个存储设备中。

4.根据权利要求1所述的系统,其中,为了获取对应于所述第一准直宽度的所述第一校正系数,所述至少一个处理器被配置为使所述系统:

指示扫描仪在所述第一准直宽度下扫描第一目标物体;

基于所述对第一目标物体的扫描,获取与所述第一目标物体相关的图像数据;

处理所述与第一目标物体相关的图像数据;

基于所述处理后的与第一目标物体相关的图像数据,重建所述第一目标物体的图像;以及

基于所述第一目标物体的重建图像,确定与所述第一准直宽度对应的所述第一校正系数。

5.根据权利要求4所述的系统,其中,为了指示所述扫描仪在所述第一准直宽度下扫描所述第一目标物体,所述至少一个处理器进一步被配置为使所述系统:

指示所述扫描仪在所述第一准直宽度下扫描空气。

6.根据权利要求1所述的系统,其中,为了获取散射辐射强度与准直宽度之间的关系,所述至少一个处理器进一步被配置为使所述系统:

指示所述扫描仪在第二准直宽度下对第二目标物体进行第一次扫描;

基于所述对第二目标物体进行的第一次扫描,获取第一辐射强度;

指示所述扫描仪将准直宽度由所述第二准直宽度改为第三准直宽度;

指示所述扫描仪 在所述第三准直宽度下对所述第二目标物体进行第二次扫描;

基于所述对第二目标物体进行的第二次扫描,获取第二辐射强度;

基于所述第二准直宽度、所述第一辐射强度、所述第三准直宽度和所述第二辐射强度,确定辐射强度与准直宽度之间的关系;以及

基于所述已确定的辐射强度与准直宽度之间的关系,确定散射辐射强度与准直宽度之间的关系。

7.根据权利要求6所述的系统,其中,根据曲线拟合技术,基于所述第二准直宽度、所述第一辐射强度、所述第三准直宽度和所述第二辐射强度,获取辐射强度与准直宽度之间的关系。

8.根据权利要求6所述的系统,其中,基于所述辐射强度与准直宽度之间的关系,确定所述散射辐射强度与准直宽度之间的关系,所述至少一个处理器进一步被配置为使所述系统:

基于所述辐射强度与准直宽度之间的关系,确定所述第二目标物体的第一辐射强度。

9.根据权利要求8所述的系统,其中,为了确定所述散射辐射强度与准直宽度之间的关系,所述至少一个处理器进一步被配置为使所述系统:

获取准直宽度与所述第二目标物体的散射辐射强度和所述第一辐射强度之比之间的关系;以及

指定准直宽度与所述第二目标物体的散射辐射强度和所述第一辐射强度之比之间的关系为所述散射辐射强度与准直宽度之间的关系。

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