[发明专利]一种XRF准直部件

说明书

技术领域

本发明涉及一种XRF准直部件，属于元素分析设备技术领域。

背景技术

任何元素的原子都是由原子核和绕核运动的电子组成，原子核外电子按其能量的高低分层分布而形成不同的能级，因此，一个原子核可以具有多种能级状态。能量最低的能级状态称为基态能级，其余能级称为激发态能级，能量最低的激发态则称为第一激发态。正常情况下，原子处于基态，核外电子在各自能量最低的轨道上运动。如果将一定外界能量如光能提供给该基态原子，当外界光能量E恰好等于该基态原子中基态和某一较高能级之间的能级差△E时，该原子将吸收这一特征波长的光，外层电子由基态跃迁到相应的激发态，形成原子吸收光谱。电子跃迁到较高能级以后处于激发态，但激发态电子是不稳定的，经过一较短时间后，激发态电子将返回基态或其它较低能级，并将电子跃迁时所吸收的能量以光的形式释放出去，这个过程形成原子发射光谱。可见原子吸收光谱过程吸收辐射能量，而原子发射光谱过程则释放辐射能量。X-射线荧光光谱分析仪的分析原理是：光源发射出原级X-射线，该射线照射样品，待测元素的原子吸收相应的能量形成激发态，外层电子向低能级电子层跃迁，同时发射出次级X-射线，即X-射线荧光，以释放能量，通过探测器检测X-射线荧光的强度，进而求得待测元素的含量。

现有技术中X射线荧光光谱分析仪，X射线源通常设置在底端，正对样品，此时，用于拍摄样品的摄像头就必须倾斜设置，倾斜设置的摄像头拍摄的样品图像必然会出现失真，如梯形失真等，导致无法正确识别出样品待检测部位的中心，也就无法给样品调整到正确位置提供正确的图像指示。

发明内容

本发明要解决的技术问题是：为解决X射线荧光光谱分析仪中摄像头拍摄样品图像失真的技术问题，提供一种摄像头拍摄样品图像精确且不影响原有功能的XRF准直部件。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：

本发明提供一种XRF准直部件，包括：

电机；

导轨；

准直块，设置导轨上；

准直块上设置有反射镜和至少一个竖直布置的准直孔，准直块能够在直线电机的驱动下沿导轨运动。

优选地，本发明的XRF准直部件，准直孔孔径为0.1mm-5mm之间的任意值。

优选地，本发明的XRF准直部件，准直孔为成一列排布的若干个。

优选地，本发明的XRF准直部件，准直孔为7个，孔径分别为0.1mm、0.2mm、0.5mm、1mm、2mm、5mm、5mm。

优选地，本发明的XRF准直部件，相邻两个准直孔之间的距离为6-12mm。

优选地，本发明的XRF准直部件，除其中一个5mm的准直孔外，准直孔内设置有滤光片。

优选地，本发明的XRF准直部件，电机为直线电机。

优选地，本发明的XRF准直部件，导轨一侧还设置有前挡块与后挡块，用于限制准直块的运动行程。

本发明的有益效果是：

本发明的XRF准直部件，通过设置具有反射镜的准直部件，在需要通过摄像头观察样品位置时，通过直线电机使准直块处于观察位置，此时可通过摄像头观察样品，且拍摄的图像不产生变形失真，产品成像和位置的调整更为精确，样品位置调整结束后，再通过直线电机使准直块处于检测位置，此时通过X射线源发生X射线就可以进行X射线检测，不影响X射线检测的功能。

附图说明

下面结合附图和实施例对本发明进一步说明。

图1是具有本发明实施例的XRF准直部件的检测仓和样品台的立体视图；

图2是具有本发明实施例的XRF准直部件的检测仓的立体视图；

图3是具有本发明实施例的XRF准直部件的检测仓和样品台的侧视图；

图4是本发明实施例的XRF准直部件的立体视图；

图5是本发明实施例的准直块的立体视图。

图中的附图标记为：

40-检测仓；401-观察窗；41-样品台；411-样品检测孔；42-X射线源；43-摄像头；44-探测器；45-准直部件；451-准直块；452-直线电机；453-前挡块；454-后挡块；4511-反射镜；4512-准直孔。

具体实施方式

现在结合附图对本发明作进一步详细的说明。这些附图均为简化的示意图，仅以示意方式说明本发明的基本结构，因此其仅显示与本发明有关的构成。

实施例

本实施例提供一种XRF准直部件，如图4所示，包括：