[发明专利]一种PCB板测试方法、装置及测试设备有效

专利信息
申请号: 201710512212.1 申请日: 2017-06-28
公开(公告)号: CN109143020B 公开(公告)日: 2020-10-16
发明(设计)人: 张恂;王星;翟学涛;杨朝辉;高云峰 申请(专利权)人: 深圳市大族数控科技有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 深圳市世联合知识产权代理有限公司 44385 代理人: 姚莉芬
地址: 518000 广东省深圳市宝安区沙井街道新沙路*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 pcb 测试 方法 装置 设备
【说明书】:

发明公开了一种PCB板测试方法、装置及测试设备,涉及PCB测试领域。所述方法包括:获取测试轴上的探针零点到所述PCB板上表面的整体距离;根据所述整体距离在所述探针零点与所述PCB板上表面之间确定一调节点;控制所述测试轴以位置模式运动,当所述测试轴上的探针运动到所述调节点时,控制所述测试轴以力矩模式运动;当所述测试轴运动到所述探针至PCB板的整体距离时,所述测试轴停止运动,并进行相应的测试;本发明实施例通过在测试轴的探针的运动路径上设置一调节点,以调节点为临界点,控制测试轴的探针在从零点位置运动到PCB板上表面的过程中以不同的控制模式运行,一方面,可以快速完成检测,提升了检测的效率,另一方面提升了检测的质量。

技术领域

本发明涉及PCB(Printed Circuit Board,印制电路板)板测试领域,尤其涉及一种PCB板测试方法、装置及测试设备。

背景技术

PCB板在制造完成之后需要对其进行一系列的性能测试,其中一项是通过飞针测试机对PCB板进行性能测试,现有的测试设备中,由于测试行程短,且测试轴(Z轴)在测试过程中高速运动,这是就容易导致测试轴振动比较大,容易使得测试轴偏移原定痕迹,导致测试精度降低,同时,高速运动容易使得测试轴在PCB板上产生的扎痕偏大,造成PCB板测试后产品质量受损的情况。

发明内容

为解决上述在测试PCB板时由于高速而导致振动偏大和探针在PCB板上留下扎痕偏大的问题,本发明实施例提供一种PCB板测试方法、装置及测试设备:

一方面,提供一种PCB板测试方法,所述PCB板的测试方法包括:

获取测试轴上的探针零点到所述PCB板上表面的整体距离;

根据所述整体距离在所述探针零点与所述PCB板上表面之间确定一调节点;

控制所述测试轴以位置模式(指上位机给到电机的设定位置和电机本身的编码器位置反馈信号或者设备本身的直接位置测量反馈进行比较形成位置环,以保证伺服电机运动到设定的位置)运动,当所述测试轴上的探针运动到所述调节点时,控制所述测试轴以力矩模式(指伺服电机按给定的力矩进行旋转,以保持电机电流环的输出恒定)运动;

当所述测试轴运动到所述探针至PCB板的整体距离时,所述测试轴停止运动,并进行相应的测试。

进一步的,在控制所述测试轴以位置模式运动之前,所述PCB板测试方法还包括获取电机音圈的电流值与所述探针与PCB板接触时的压力大小的映射关系,具体为:

根据所述电机音圈设定的初始电流值,控制所述测试轴上的探针从零点位置运动到测试板上表面;

记录所述测试轴上的探针在与测试板上表面接触时的压力大小,并获取扎痕图像;

改变所述电机音圈的电流值,在不同的电流值下控制所述测试轴上的探针从零点位置运动到测试板上表面,并记录在不同电流值下所述测试轴上的探针与测试板上表面接触时的压力大小,并获取扎痕图像;

将获取的多个扎痕图像与预设图像进行比对,得到满足扎痕要求的图像;

获取所述满足扎痕要求的图像对应的电流值和所述压力大小的映射关系。

进一步的,根据所述距离在所述探针零点与所述PCB板上表面之间确定一调节点,具体为:将与所述探针零点的距离占所述整体距离的80%的位置确定为调节点。

进一步的,所述控制所述测试轴以位置模式运动,当所述测试轴上的探针运动到所述调节点时,控制所述测试轴以力矩模式运动具体为:

控制所述测试轴以位置模式运动;

实时记录所述探针的位置,并比较判断所述探针的位置与所述调节点的位置关系;

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