[发明专利]电子设备的测试系统与方法

说明书

一种电子设备的测试系统，用于对所述电子设备进行测试，所述测试系统包括连接启动模块、图片获取模块及比对判断模块。连接启动模块用于将所述电子设备与测试组件通信连接，并启动所述测试组件的测试程序，以对所述电子设备进行测试。图片获取模块用于获取所述电子设备的测试结果图像。比对判断模块用于将所述测试结果图像与模板图像进行比较，以获取测试结果。本发明还提供一种电子设备的测试方法。上述电子设备的测试系统与方法，通过在测试过程中获取测试结果图像并与模板图像进行比对，来实现自动获取测试结果，避免人为测试中的疏漏及误差，同时可节省测试人力成本。

技术领域

本发明涉及测试领域，尤其涉及一种电子设备的测试系统与方法。

背景技术

产品质量的可靠度是产品能成功销售的关键，现有的电子设备在完成生产后，需要做多种可靠性能测试，且某些可靠性性能测试需要做重复多次测试，测试过程较繁琐，且在每次测试完成后，测试人员需要手动记录测试结果，进而需要花费大量的人力与时间来完成产品测试。

发明内容

有鉴于此，有必要提供一种电子设备的测试系统与方法，其能实现节省测试人力成本。

本发明一实施方式提供一种电子设备的测试系统，用于对电子设备进行测试，所述测试系统包括：连接启动模块，用于将所述电子设备与测试组件通信连接，并启动所述测试组件的测试程序，以对所述电子设备进行测试；图片获取模块，用于获取所述电子设备的测试结果图像；及比对判断模块，用于将所述测试结果图像与模板图像进行比较，以获取测试结果。

优选地，所述测试系统还包括统计生成模块，用于统计对所述电子设备的测试次数并根据每一次的测试结果来生成测试报表。

优选地，所述测试组件包括上位机及IO控制模组，所述IO控制模组电连接于所述电子设备，所述连接启动单元用于启动所述上位机的测试程序控制IO控制模组的打开与关闭，以对所述电子设备进行测试。

优选地，所述测试组件包括上位机及信号发生器，所述连接启动单元用于启动所述上位机的测试程序控制所述信号发生器根据预设的调制参数输出射频信号至所述电子设备，以对所述电子设备进行测试。

优选地，所述测试系统还包括坐标获取模块，所述坐标获取模块用于获取并存储所述模板图像的坐标信息；所述比对判断模块用于将所述测试结果图像与所述模板图像进行比较，以从所述测试结果图像中找到匹配区域；所述坐标获取模块还用于获取所述匹配区域的坐标信息；及所述比对判断模块还用于将所述模板图像的坐标信息与所述匹配区域的坐标信息进行比较，以获取测试结果。

本发明一实施方式提供一种电子设备的测试方法，所述测试方法包括以下步骤：将电子设备与测试组件通信连接，并启动所述测试组件的测试程序，以对所述电子设备进行测试；获取所述电子设备的测试结果图像；及将所述测试结果图像与模板图像进行比较，以获取测试结果。

优选地，所述测试方法还包括：统计对所述电子设备的测试次数并根据每一次的测试结果来生成测试报表。

优选地，所述测试组件包括上位机及IO控制模组，所述启动所述测试组件的测试程序，以对所述电子设备进行测试的步骤包括：

启动所述上位机的测试程序控制IO控制模组的打开与关闭，以对所述电子设备进行测试。

优选地，所述测试组件包括上位机及信号发生器，所述启动所述测试组件的测试程序，以对所述电子设备进行测试的步骤包括：

启动所述上位机的测试程序控制所述信号发生器根据预设的调制参数输出射频信号至所述电子设备，以对所述电子设备进行测试。

优选地，所述将所述测试结果图像与模板图像进行比较，以获取测试结果的步骤包括：

获取并存储所述模板图像的坐标信息；