[发明专利]用于图像芯片测试的光源系统

说明书

技术领域

本发明涉及图像芯片测试设备领域，尤其涉及一种用于图像芯片测试的光源系统。

背景技术

图像芯片常规测试中需要使用光源设备。不同图像芯片的不同测试项，需要光源亮度不同，特殊情况下需要某种单色光。

而目前市场现有测试用光源，如果需要某种单色光，需要更换灯箱，或者更换LED灯板，在实际使用中，增加测试时间，进而增加测试成本。并且当测试项目要求在低亮度下进行测试时，市场上现有的测试光源采用LED灯珠，LED在低亮度下不稳定，因此其均光效果也得不到保证，同时，更换灯箱使得不同灯箱因LED差异在其低亮度下更难保证一致性。

发明内容

基于现有技术所存在的问题，本发明的目的是提供一种用于图像芯片测试的光源系统，能在不需要更换灯箱的前提下，提供图像芯片测试需要的各种类型的光源，进而在降低测试成本的同时，确保光源亮度的一致性。

本发明的目的是通过以下技术方案实现的：

本发明实施例提供一种用于图像芯片测试的光源系统，包括：

计算机、光源控制器和调光式灯箱；其中，

所述计算机与所述光源控制器通信连接，所述光源控制器与所述调光式灯箱通信连接，所述调光式灯箱内设有LED灯板，所述计算机能向所述光源控制器发送光源调节指令，所述光源控制器能根据所述光源调节指令对所述调光式灯箱内的LED灯板的亮度进行调节。

由上述本发明提供的技术方案可以看出，本发明实施例提供的光源系统，其有益效果为：通过设置计算机、光源控制器与调光式灯箱配合，在不需要更换调光式灯箱或者灯板的情况下，直接通过计算机调整就能改变调光式灯箱内LED灯板的亮度，即改变光源的亮度，大大缩短人力测试时间，进而节省测试成本。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域的普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他附图。

图1为本发明实施例提供的光源系统的构成示意图；

图2为本发明实施例提供的调光式灯箱的结构示意图；

图3为本发明实施例提供的滤光片切换装置的结构示意图；

图4为本发明实施例提供的减光片切换装置的结构示意图；

图5为本发明实施例提供的光源控制器的电路构成示意图；

图6为本发明实施例提供的光源控制器的PC通信电路连接示意图。

具体实施方式

下面结合本发明的具体内容，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明的保护范围。

如图1所示，本发明实施例提供一种用于图像芯片测试的光源系统，可作为图像芯片测试的光源，包括：

计算机1、光源控制器2和调光式灯箱3；其中，

计算机与光源控制器通信连接，光源控制器与调光式灯箱通信连接，调光式灯箱内设有LED灯板，计算机能向光源控制器发送光源调节指令，光源控制器能根据光源调节指令对调光式灯箱内的LED灯板的亮度进行调节。

如图2所示，上述光源系统中，调光式灯箱包括：

箱体20、灯板散热片22、LED灯板23、透镜24、第一均光板25、第二均光板26和控制器接口21；其中，

箱体20前端为出光口，箱体内后端设置灯板散热片22，该灯板散热片22上设置LED灯板23，LED灯板23前方的箱体内依次间隔设置透镜24、第一均光板25和第二均光板26，第二均光板26设在箱体20前端的出光口上；

箱体20上设置控制器接口21，控制器接口21与LED灯板23电气连接。

在面对镜头高度不一样的应用场景时，本发明通过调整调光式灯箱内第一均光板及第二均光板，就可以满足不同图像芯片用不同镜头测试的需求，而不用像现有灯箱那样更换不同高度的光源。

上述光源系统中，调光式灯箱还包括：

滤光片切换装置27、若干滤光片、减光片切换装置28和若干减光片；其中，

滤光片切换装置27和减光片切换装置27依次间隔设在透镜24与第一均光板25之间的光通路一侧；