[发明专利]一种散热片散热均热测量机构

说明书

技术领域

本发明涉及散热片生产领域，特别是涉及一种散热片散热均热测量机构。

背景技术

目前散热片的散热测量，一般采用激光热导仪，但激光热导仪造价昂贵，售价动辄超过百万元且无法测量含胶的样品的导热系数，同时对样品的厚度有一定的限制，不适合工厂做来料检验及现场半成品、成品的检验。

发明内容

为解决上述技术问题，本发明提供了一种散热片散热均热测量机构，结构简单，操作方便，能同时测量两个样品，对两个样品进行直观的比较，且对样品的厚度没有限制，含胶样品也可测量；造价低，适合工厂做来料检验及生产现场的半成品、成品的检验。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：一种散热片散热均热测量机构，它包括透明箱体；所述透明箱体的外侧设置有可调电源；所述透明箱体的底部铺设两个呈对称分布的支撑板；所述透明箱体的内部左侧和右侧设置有支架；所述支架上设置有多个数显温度计；所述支撑板的中间位置上开设有凹槽，并在凹槽中设有发热片；所述发热片与外部电源连接；所述发热片的一个侧面上设有热电偶；所述热电偶与数显温度计相连接。

所述透明箱体为透明亚克力板箱体；其厚度不低于10mm。

所述数显温度计成对设置，一对数显温度计分别设置在透明箱体左右两侧的支架上。

所述支撑板上铺设有待测散热片；所述散热片通过导热胶与发热片相连接。

所述待测散热片上表面设有多个测试点；其中一个测试点位于发热片的正上方。

本发明的有益效果：本发明的一种散热片散热均热测量机构，结构简单，操作方便，能同时测量两个样品，对两个样品进行直观的比较，且对样品的厚度没有限制，含胶样品也可测量；造价低，适合工厂做来料检验及生产现场的半成品、成品的检验。

附图说明

图1为本实施例的一种散热片散热均热测量机构的示意图；

图2为本实施例的一种散热片散热均热测量机构的另一角度的示意图；

图3为本实施例的一种散热片散热均热测量机构的测试点的示意图。

具体实施方式

为了加深对本发明的理解，下面将结合附图和实施例对本发明做进一步详细描述，该实施例仅用于解释本发明，并不对本发明的保护范围构成限定。

实施例

如图1至图2所示，一种散热片散热均热测量机构，它包括透明箱体100；所述透明箱体100的外侧设置有可调电源700；所述透明箱体100的底部铺设两个呈对称分布的支撑板200；所述透明箱体100的内部左侧和右侧设置有支架400；所述支架400上设置有多个数显温度计500；所述支撑板200的中间位置上开设有凹槽，并在凹槽中设有发热片300；所述发热片300与外部电源700连接；所述发热片300的一个侧面上设有热电偶600；所述热电偶600与数显温度计500相连接；所述透明箱体100为透明亚克力板箱体；其厚度不低于10mm；所述数显温度计500成对设置，一对数显温度计分别设置在透明箱体100左右两侧的支架400上；所述支撑板200上铺设有待测散热片800；所述散热片800通过导热胶与发热片300相连接；所述待测散热片800上表面设有多个测试点；其中一个测试点位于发热片300的正上方。

本实施例的一种散热片散热均热测量机构的工作原理：一、散热能力的测量：将可调电源的输出电流与电压值调整到4瓦特(瓦特数＝电压值*电流值)，两个加热片通电后开始升温，因所加功率为固定瓦特值，加热片升温30分钟后便达到衡温状态，温度不再增加，此时，加热片温度通过热电偶测量，由数显温度计显示加热片的实际温度；记录已达恒温状态的两个加热片的温度，再将已设定好面积大小的两个待测散热片采用导热胶分别贴附于两个加热片上，加热片因待测散热片带走热量并发散于空气中，加热片开始降温，30分钟后降温停止达到恒温状态，测量降温后达平衡状态的温度值，再次记录；将数显温度计记录的未贴石墨片的温度平衡时的加热片温度值减掉记录的贴上石墨片的温度平衡后的加热片温度值，通过所得到的温差值可判断两个待测散热片的散热能力的大小；二、均热能力的测量：先将已设定一定面积的个两待测散热片采用导热胶分别贴于两个加热片上，在待测散热片上选择若干测试点，以热电偶连接数显温度计，将可调电源供应装置的输出电流与电压值调整到4瓦特(瓦特数＝电压值*电流值)，两个加热片通电后开始升温，等加热片温度恒定不升时，记录各测试点的温度值；以正对发热片上方测试点1的温度值T1减去离发热片最远测试点4的温度值T4，所得的差值即可判断两个待测散热片的均温能力，差值越小均温能力越好。