[发明专利]一种集成双向CRC校验功能的可扩展JTAG调试结构

权利要求书

1.一种集成双向CRC校验功能的可扩展JTAG调试结构，其特征在于：包括调试主控器和调试子控制器；

调试主控器中设计有子控制器选择与使能单元、输入/输出数据CRC校验模块、调试子控制器接口，调试主控器受IEEE1149.1标准的JTAG接口和TAP控制器控制，通过接收JTAG接口的数据，进行数据校验和指令解析后，将校验无误的数据送往相应的调试子控制器，进一步进行处理和执行，调试子控制器返回的数据由调试主控器进行CRC保护后，按照标准JTAG时序送至外部JTAG端口；

调试子控制器接受调试主控器的控制，并按照相应的数据指令，实现对调试对象的调试操作并返回调试数据，调试子控制器中有指令解析模块、地址/数据发生寄存器、调试命令寄存器、读写控制结构，在接收到调试指令和数据后，通过指令解析和转换，将串行指令和数据转换为对被调试对象的读写操作，并将结果储存和返回；

一个调试主控器挂载多路调试子控制器，通过设置调试主控器中的子控制器ID寄存器宽度，进行多核扩展和调试集成。

2.如权利要求1所述的集成双向CRC校验功能的可扩展JTAG调试结构，其特征在于：调试子控制器中设计有调试状态寄存器和冲突检测结构，可实现读写冲突、过写、过读、读写响应异常的检测。

3.如权利要求1所述的集成双向CRC校验功能的可扩展JTAG调试结构，其特征在于：调试主控器支持Module Select指令，在调试主控器中被解析，Module Select指令用于调试子控制器的选择和使能。

4.如权利要求1所述的集成双向CRC校验功能的可扩展JTAG调试结构，其特征在于：每一个调试子控制器拥有不同的子控制器指令或采用相同的子控制器指令；子控制器指令包括Write_Command指令用于将调试访问地址、访问类型和读写操作次数信息写入调试子控制器，Read_Command指令用于读取当前的调试子控制器指令内容，Go_Command指令用于执行调试操作，按照调试访问读操作/写操作的差异，Go_Command指令的数据流结构分为读操作型Go_Command指令和写操作型Go_Command指令，分别用于控制读操作调试和写操作调试访问。