[发明专利]IV测试装置

说明书

技术领域

本发明涉及电芯的生产领域，更具体地说，涉及一种IV测试装置。

背景技术

在电芯的生产过程中，电芯成品需要经过IV测试装置的测试。在进行IV测试时，电芯的极耳放置在托架机构上，探针机构下移直到探针压紧电芯的正极耳，刺刀弹出压紧电芯边缘，这样就能够测出电芯电极与电芯边缘的电压差。在现有技术中，IV测试装置中的托架机构无法调节，因此只能调节探针的高度，但是探针高度的调节仅能通过人工手动调节，人工手动调节的调节精度低，极易造成探针与极耳接触不良或者正极耳被压坏。

因此，如何实现探针的自动化调节，提高探针的调节精度，是本领域技术人员亟待解决的关键性问题。

发明内容

本发明的目的是提供一种IV测试装置，该装置能够实现对探针的自动调节，且调节精度高。

为达到上述目的，本发明提供以下技术方案：

一种IV测试装置，包括探针机构、与所述探针机构配合使用的托架机构，还包括第一电机；所述探针机构包括探针和第一转化装置，所述第一转化装置与所述第一电机连接，将所述第一电机的转动转化为直线运动，驱动所述探针的升降。

优选地，还包括第二电机；所述托架机构包括托架和第二转化装置，所述第二转化装置与所述第二电机连接，将所述第二电机的转动转化为直线运动，驱动所述托架的升降。

优选地，所述探针机构和所述托架机构均为多个。

优选地，所述第一转化装置包括第一齿轮、与所述第一齿轮啮合的第一齿条，所述第一齿条与所述探针连接，还包括第一转轴，所述第一转轴与所有的所述第一齿轮键连接，所述第一电机驱动所述第一转轴转动。

优选地，所述第二转化装置包括第二齿轮、与所述第二齿轮啮合的第二齿条，所述第二齿条与所述托架连接，还包括第二转轴，所述第二转轴与所有的所述第二齿轮键连接，所述第二电机驱动所述第二转轴转动。

优选地，还包括用于驱动所有的所述探针和所有的所述托架左右移动的驱动装置；所有的所述探针均连接于第一连接板上，所有的所述托架均连接于第二连接板上，所述驱动装置与所述第一连接板和所述第二连接板连接。

优选地，所述驱动装置包括：第三电机，与所述第三电机连接的丝杠机构，所述丝杠机构与所述第一连接板和所述第二连接板连接。

优选地，所述第一连接板与所述第二连接板连接，所述第一连接板与连接块连接，所述连接块与所述丝杠机构连接。

优选地，还包括与所述第一连接板配合的第一导轨，所述第一导轨在左右方向上延伸。

优选地，还包括与所述第二连接板配合的第二导轨，所述第二导轨在左右方向上延伸。

从上述技术方案可以看出，本发明中的IV测试装置增设了第一电机和第一转化装置。第一电机与第一转化装置连接，第一转化装置将第一电机的转动转化为直线运动，从而驱动探针升降。本发明通过第一电机和第一转化装置来调节探针，相较于传统的人工手动调节，本发明实现了探针的自动化调节，且调节精度要高于人工手动调节。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例中的方案，下面将对实施例中描述所需要使用的附图作简单的介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明一具体实施例提供的探针机构与托架机构的结构示意图；

图2为本发明一具体实施例提供的IV测试装置的整体结构示意图；

图3为图2的俯视图。

其中，1为第一齿条、2为第一齿轮、3为探针、4为第二齿条、5为第二齿轮、6为托架、7为电芯、8为第一转轴、9为第二转轴、10为第一电机、11为第二电机、12为第三电机、13为连接块、14为第一连接板。

具体实施方式

本发明提供了一种IV测试装置，该装置能够实现对探针的自动调节，且调节精度高。

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。

请参考附图1-附图3。在本发明一具体实施例中，IV测试装置包括：探针机构、托架机构，还包括第一电机10和第一转化装置。