[发明专利]一种电路模块的工作电流检测方法及电路有效

专利信息
申请号: 201710442391.6 申请日: 2017-06-13
公开(公告)号: CN109085405B 公开(公告)日: 2021-04-02
发明(设计)人: 杨家奇;邓志兵;汪腾野;翁文君 申请(专利权)人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司;中芯国际集成电路制造(北京)有限公司
主分类号: G01R19/00 分类号: G01R19/00
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 张振军;吴敏
地址: 201203 *** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 电路 模块 工作 电流 检测 方法
【说明书】:

一种电路模块的工作电流检测方法及电路,所述工作电流检测电路包括:电容,直接或者间接地耦接所述电路模块的电源端,所述电容两端的电压用于为所述电路模块供电;电压检测模块,适于对所述电容两端的电压进行检测,以根据单位时间内所述电容两端的电压变化量和所述电容的容值确定所述电路模块的工作电流。采用本发明技术方案可以实现对电路模块,尤其是对低功耗电路模块的工作电流的高精度检测。

技术领域

本发明涉及低功耗设备检测领域,特别涉及一种电路模块的工作电流检测方法及电路。

背景技术

随着基于互联网技术的物联网技术和可穿戴电子技术的不断演进,产品的低功耗特性显得越来越重要。以可穿戴式设备为例,其内部的电路模块功耗极低。在评估低功耗设备的功耗时,由于其内部的电路模块的工作电流微乎其微,使得测量十分困难,对设备的要求必然苛刻。

在现有技术中,一般采用精密电源对电路模块的工作电流进行检测。精密电源对电路模块供电,也即精密电源的输出电压等于所述电路模块的额定电压,精密电源的电流档将显示电路模块的工作电流。

然而,一般来说,精密电源对小电流的测量精度约为1μA,而低功耗设备中的电路模块的工作电流一般仅有几百nA,采用精密电源对所述工作电流的检测非常不准确,误差较大,精度较低。

发明内容

本发明解决的技术问题是如何实现对电路模块,尤其是对低功耗电路模块的工作电流的高精度检测。

为解决上述技术问题,本发明实施例提供一种电路模块的工作电流检测方法,所述工作电流检测方法包括:采用电容两端的电压直接或者间接地为所述电路模块供电;获取单位时间内所述电容两端的电压变化量;获取所述电容的容值;根据单位时间内所述电容两端的电压变化量和所述电容的容值确定所述电路模块的工作电流。

可选地,所述采用电容两端的电压直接或者间接地为所述电路模块供电之前,还包括:在对所述电路模块的工作电流开始检测前,采用第一电源电压对所述电容进行充电,在对所述电路模块的工作电流开始检测时,控制所述第一电源电压停止对所述电容进行充电。

可选地,所述采用电容两端的电压直接或者间接地为所述电路模块供电还包括:将所述电路模块的电源端的电压维持在等于参考电压,所述参考电压等于所述电路模块的标称供电电压。

可选地,采用电压维持模块将所述电路模块的电源端的电压维持在等于所述参考电压;所述电压维持模块包括:所述运算放大器,其第一输入端接入所述参考电压,其第二输入端耦接所述电路模块的电源端;第一MOS晶体管,其控制端耦接所述运算放大器的输出端,其第一端耦接所述电容的第一端,其第二端耦接所述电路模块的电源端。

可选地,所述采用电容两端的电压直接或者间接地为所述电路模块供电还包括:在对所述电路模块的工作电流开始检测前,控制所述第一MOS晶体管关断,在对所述电路模块的工作电流开始检测时,控制所述第一MOS晶体管导通。

为解决上述技术问题,本发明实施例还提供一种电路模块的工作电流检测电路,所述工作电流检测电路包括:电容,直接或者间接地耦接所述电路模块的电源端,所述电容两端的电压用于为所述电路模块供电;电压检测模块,适于对所述电容两端的电压进行检测,以根据单位时间内所述电容两端的电压变化量和所述电容的容值确定所述电路模块的工作电流。

可选地,所述工作电流检测电路还包括:第一开关器件,其第一端接入第一电源电压,其第二端耦接所述电容的第一端,所述电容的第二端接参考端,所述第一开关器件适于在对所述电路模块的工作电流开始检测前受控导通,在对所述电路模块的工作电流开始检测时受控关断,其中,所述第一开关器件受控导通时,所述第一电源电压对所述电容充电。

可选地,所述工作电流检测电路还包括:电压维持模块,接入参考电压,所述电容的第一端经由所述电压维持模块耦接至所述电路模块的电源端,所述电压维持模块适于维持所述电路模块的电源端的电压等于参考电压,所述参考电压等于所述电路模块的标称供电电压。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中芯国际集成电路制造(上海)有限公司;中芯国际集成电路制造(北京)有限公司,未经中芯国际集成电路制造(上海)有限公司;中芯国际集成电路制造(北京)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201710442391.6/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top