[发明专利]一种利用裂缝发育密度评价裂缝性储层质量的方法有效
申请号: | 201710398209.1 | 申请日: | 2017-05-31 |
公开(公告)号: | CN108984804B | 公开(公告)日: | 2023-05-12 |
发明(设计)人: | 祖克威;范凌霄;孙力;崔长鹏;吉亚明;梁国胜;刘红磊;曾正清 | 申请(专利权)人: | 中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司中原油田分公司勘探开发研究院 |
主分类号: | G06F30/23 | 分类号: | G06F30/23;E21B49/00;G06F119/14 |
代理公司: | 郑州睿信知识产权代理有限公司 41119 | 代理人: | 牛爱周 |
地址: | 457001 *** | 国省代码: | 河南;41 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 利用 裂缝 发育 密度 评价 性储层 质量 方法 | ||
1.一种利用裂缝发育密度评价裂缝性储层质量的方法,其特征在于,包括以下步骤:
1)利用研究区的地质特征参数,确定研究区裂缝的形成期次、裂缝的形成时间和各个期次对应的主应力状态,恢复各个裂缝形成期次的古地貌;
2)根据步骤1)所得各个裂缝形成期次的古地貌恢复结果,确定研究区的断层演化序列,构建各个裂缝形成期次的地质模型;
3)利用岩石物理建模方法,构建与步骤2)所得各个裂缝形成期次的地质模型相对应的非均质力学模型;
4)依据步骤1)中划分的研究区裂缝的各个期次的主应力状态和步骤3)中相应的非均质力学模型,利用应力场数值模拟法,结合岩石力学破裂准则,确定各个裂缝形成期次的破裂率的平面分布特征;
5)利用多元回归分析法,建立如式(1)所示的各个裂缝形成期次的破裂率Ii与研究区各个单井裂缝发育密度D之间的对应关系,确定研究区平面裂缝密度分布特征;
式(1)中,D为单井裂缝发育密度,n为裂缝的形成期次个数,Ai为各期次破裂率的加权系数,Ii为各期次的破裂率大小,C为常数项;
6)依据步骤5)确定的研究区平面裂缝密度分布特征评价裂缝性储层质量。
2.如权利要求1所述的利用裂缝发育密度评价裂缝性储层质量的方法,其特征在于,步骤1)中,各个裂缝形成期次的古地貌恢复包括以下步骤:
1.1利用研究区野外露头裂缝的产状参数和地层产状参数,恢复裂缝产状形成的古地应力方向;
1.2利用研究区岩心和野外采集的样品开展声发射实验,确定裂缝形成的期次和各个期次对应的古地应力的大小;
1.3利用裂缝充填物包裹体均一温度测试结果结合埋藏史曲线,确定各个裂缝形成期次的时间;
1.4利用确定的各个裂缝形成期次的时间,恢复各个裂缝形成期次的古地貌。
3.如权利要求1或2所述的利用裂缝发育密度评价裂缝性储层质量的方法,其特征在于,步骤3)中,非均质力学模型的构建包括以下步骤:
3.1利用收集到的地层物性参数和研究区各单井常规测井数据建立各单井岩石物理模型;
3.2利用研究区各单井的测井资料确定各单井的岩石力学参数,根据各单井的岩石力学参数表征平面上岩石力学参数的展布特征,划分出基于步骤2)中地质模型的力学单元,构建与步骤2)确定的各个裂缝形成期次的地质模型相对应的非均质力学模型。
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