[发明专利]韦布尔杂波环境下基于偏斜度和均值比的恒虚警检测方法

权利要求书

1.一种韦布尔杂波环境下基于偏斜度和均值比的恒虚警检测方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤1，将雷达匹配滤波器或者动目标检测器输出结果送入包络检波器，对包络检波器的输出进行恒虚警检测，进行恒虚警检测的参考滑窗共有N个参考单元，分为前沿滑窗A和后沿滑窗B，各有N/2个服从韦布尔分布的参考单元，分别为X_A,1，…，X_A,N/2和X_B,1，…，X_B,N/2；

步骤2，先计算前、后沿滑窗的统计均值比MR，再对参考单元数据进行对数变换，分别计算前、后沿滑窗的偏斜度SK：将SK与偏斜度门限T_SK进行比较，判断前、后沿滑窗是否含有干扰目标；将MR与均值比门限K_MR进行比较，判断前、后沿滑窗是否来自同一分布；

步骤3，根据步骤2判断结果，选择合适的参考滑窗，对参考单元数据采用Log-t CFAR检测方法计算检测门限，判断检测单元是否存在目标。

2.根据权利要求1所述的韦布尔杂波环境下基于偏斜度和均值比的恒虚警检测方法，其特征在于，步骤2所述先计算前、后沿滑窗的统计均值比MR，再对参考单元数据进行对数变换，分别计算前、后沿滑窗的偏斜度SK：将SK与偏斜度门限T_SK进行比较，判断前、后沿滑窗是否含有干扰目标；将MR与均值比门限K_MR进行比较，判断前、后沿滑窗是否来自同一分布，具体如下：

步骤2-1，将参考单元序列X_A,1，…，X_A,N/2和X_B,1，…，X_B,N/2，分别进行对数变换，得到序列Y_A,1，…，Y_A,N/2和Y_B,1，…，Y_B,N/2，前沿滑窗A的偏斜度SK计算如下：

其中，SK_A为前沿滑窗A的偏斜度，i为参考单元序列标号，

同理后沿滑窗B偏斜度SK计算如下：

其中，SK_B为后沿滑窗B的偏斜度，

步骤2-2，计算统计均值比MR，计算公式如下：

其中，和分别是前沿滑窗A和后沿滑窗B对数变换前的均值；

步骤2-3，确定偏斜度门限T_SK和均值比门限K_MR，T_SK和K_MR分别由如下公式确定：

α₀＝P[SK＞T_SK|均匀环境]

β₀＝1-P[1/K_MR≤MR≤K_MR|均匀环境]

其中，α₀为滑窗为均匀环境却被判断为存在干扰目标的概率，β₀为前后沿滑窗来自相同分布却被判断为来自不同分布的概率；

步骤2-4，将SK与偏斜度门限T_SK进行比较，判断前、后沿滑窗是否含有干扰目标，判别公式如下：

将MR与均值比门限K_MR进行比较，判断前、后沿滑窗是否来自同一分布，判别公式如下：

MR＜K_MR^-1或。

3.根据权利要求1所述的韦布尔杂波环境下基于偏斜度和均值比的恒虚警检测方法，其特征在于，步骤3所述根据步骤2判断结果，选择合适的参考滑窗，对参考单元数据采用Log-t CFAR检测方法计算检测门限，判断检测单元是否存在目标，具体如下：

步骤3-1，参考滑窗选择方法如表1所示：

表1

步骤3-2，根据参考滑窗的选择结果，对滑窗中的参考单元数据采用Log-t CFAR检测方法计算检测门限，不同情况下检测门限S的计算公式如表2所示：

表2

其中，m'_AB，σ'_AB分别为全滑窗AB参考单元的均值和方差，计算公式如下

上式中，Y_i为对数变换后的前、后沿滑窗的序列之和Y_A,1，…，Y_A,N/2，Y_B,1，…，Y_B,N/2，N为全滑窗AB参考单元数目；

同理，

T_N和T_N/2为门限因子；

步骤3-3，将检测单元数据D与检测门限S进行比较，判断检测单元是否存在目标，具体如下：

。