[发明专利]一种电致发光显示面板及其检测方法、显示装置

权利要求书

1.一种电致发光显示面板，其特征在于，包括：多个阵列排布的像素电路和多个用于对位于所述阵列的同一行的像素电路和/或位于所述阵列的同一列的像素电路所共用的待检测信号线进行检测的检测单元；所述待检测信号线的源端和远端分别连接一个所述检测单元；

所述检测单元包括：控制模块和发光模块；所述控制模块连接所述待检测信号线、控制电压输入端以及所述发光模块，用于在所述控制电压输入端的电压的控制下导通或关断所述发光模块和所述待检测信号线；所述发光模块还连接第一电平端，用于在所述待检测信号线的电压和所述第一电平端的电压的驱动下发光。

2.根据权利要求1所述的电致发光显示面板，其特征在于，所述控制模块包括：第一晶体管；所述第一晶体管的第一极连接所述待检测信号线，所述第一晶体管的第二极连接所述发光模块，所述第一晶体管的栅极连接所述控制电压输入端；

所述发光模块包括：发光二极管；所述发光二极管的阳极连接所述控制模块；所述发光二极管的阴极连接所述第一电平端。

3.根据权利要求2所述的电致发光显示面板，其特征在于，所述像素电路包括：第二晶体管、第三晶体管、第四晶体管、第一电容以及电致发光二极管；

所述第二晶体管的第一极连接第二电平端、所述第二晶体管的第二极连接所述电致发光二极管的阳极、所述第一电容的第一极、所述第四晶体管的第一极，所述第二晶体管的栅极连接所述第一电容的第二极和所述第三晶体管的第二极；

所述第三晶体管的第一极连接数据线、所述第三晶体管的栅极连接第一扫描信号线；

所述第四晶体管的第二极连接检测线、所述第四晶体管的栅极连接第二扫描信号线；

所述电致发光二极管的阴极连接第一电平端。

4.一种电致发光显示面板的检测方法，其特征在于，用于对权利要求3所述的电致发光显示面板的数据线进行检测；所述方法包括：

在控制电压输入端的电压的控制下导通所述发光模块和所述数据线、在所述数据线上施加预设电压、在所述第一扫描信号线的电压的控制下使各所述像素电路的第三晶体管导通以及使所述检测线浮空；

若与任一数据线的源端和远端连接的检测单元的发光模块均发光，则确定该数据线没有开路；

若与任一数据线的源端和远端连接的检测单元的发光模块均不发光，则确定该数据线的源端具有开路；

若与任一数据线的源端连接的检测单元的发光模块发光且与该数据线的远端连接的检测单元的发光模块不发光，则根据共用该数据线的像素电路中电致发光二极管不发光且距离该数据线的源端最近的像素电路的位置确定该数据线的开路位置。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

在控制电压输入端的电压的控制下导通所述发光模块和所述数据线、在所述数据线上施加预设电压以及控制所述第一扫描信号线、所述第二扫描信号线以及所述检测线的电压均为低电平；若与任一数据线的源端和远端连接的检测单元的发光模块的发光亮度等于预设亮度，则确定该数据线没有短路；若与任一数据线的源端和远端连接的检测单元的发光模块的发光亮度大于预设亮度，则确定该数据线与第二电平端短路；

在控制电压输入端的电压的控制下导通所述发光模块和所述数据线、控制所述第一扫描信号线的电压为低电平、所述第二扫描信号线和所述检测线的电压均为高电平；若与任一数据线的源端连接和远端连接的检测单元的发光模块的发光亮度小于预设亮度,则确定该数据线与第一扫描信号线短路；

在控制电压输入端的电压的控制下导通所述发光模块和所述数据线、控制所述第二扫描信号线的电压为低电平、所述第一扫描信号线和所述检测线的电压均为高电平；若与任一数据线的源端和远端连接的检测单元的发光模块的发光亮度小于预设亮度,则确定该数据线与第二扫描信号线短路；

在控制电压输入端的电压的控制下导通所述发光模块和所述数据线、控制所述检测线的电压为低电平、所述第一扫描信号线和所述第二扫描信号线的电压均为高电平；若与任一数据线的源端连接和远端连接的检测单元的发光模块的发光亮度小于预设亮度,则确定该数据线与检测线短路；

其中，所述预设亮度为在发光模块在所述预设电压和第一电平端的电压的驱动下的发光亮度。