[发明专利]基于二进制向量的测试设备

权利要求书

1.一种测试设备，包括：

被测装置(DUT)，被配置为使用串行接口协议交换数据；以及

测试控制器，被配置为从自动测试装备(ATE)接收对应于串行接口协议的物理层的二进制向量，并且缓冲和发送接收的二进制向量至所述被测装置(DUT)，

其中所述测试控制器还包括DC偏移块，所述DC偏移块被配置为通过至少一个差分信号线对发送所述二进制向量至所述被测装置(DUT)并调整所述至少一个差分信号线对中的DC偏移。

2.根据权利要求1所述的测试设备，其中所述测试控制器包括：

缓冲器，被配置为储存所述二进制向量；以及

串行器，被配置为将储存的所述二进制向量转换成对应于所述串行接口协议的串行信号。

3.根据权利要求2所述的测试设备，其中所述串行器还被配置为将所述二进制向量转换为对应于所述串行接口协议的差分信号，并且加速和输出数据。

4.根据权利要求1所述的测试设备，其中所述二进制向量为经由所述串行接口协议的物理层中的差分信号接收的二进制信号序列。

5.根据权利要求1所述的测试设备，其中所述测试控制器不具有所述串行接口协议的事务层和链路层的功能。

6.根据权利要求5所述的测试设备，其中所述测试控制器包括现场可编程门阵列(FPGA)。

7.根据权利要求1所述的测试设备，其中所述串行接口协议包括PCIe、UFS和M.2通信方案的至少之一。

8.根据权利要求1所述的测试设备，其中所述串行接口协议的所述物理层对应于MIPIM-PHY规范。

9.根据权利要求1所述的测试设备，其中所述自动测试装备(ATE)被配置为将用于测试的命令或数据翻译成所述二进制向量。

10.根据权利要求1所述的测试设备，其中所述DC偏移块包括至少一个无源元件，所述至少一个无源元件被配置为响应于从所述测试控制器提供的DC偏移控制信号施加所述DC偏移至所述差分信号线。

11.一种通用测试设备，包括：

测试控制器，被配置为将接收的二进制数据翻译成串行传送信号；

被测装置(DUT)，被配置为经由差分信号线对从所述测试控制器接收所述串行传送信号；以及

DC偏移块，被配置为响应于来自所述测试控制器的DC偏移控制信号调整所述差分信号线对的DC偏移，

其中所述DC偏移块包括至少一个无源元件。

12.根据权利要求11所述的通用测试设备，其中所述测试控制器还被配置为基于所述被测装置(DUT)的接口协议的类型生成所述DC偏移控制信号。

13.根据权利要求11所述的通用测试设备，其中所述测试控制器还被配置为基于所述被测装置(DUT)的操作模式确定所述DC偏移控制信号的电平。

14.根据权利要求11所述的通用测试设备，其中所述DC偏移块包括电感器，所述电感器被配置为接收所述DC偏移控制信号并提供所述DC偏移控制信号作为所述差分信号线对中至少一个线的DC偏移。

15.根据权利要求11所述的通用测试设备，其中所述DC偏移块包括多个分开的电阻器，所述电阻器被配置为划分所述DC偏移控制信号并提供被划分的DC偏移控制信号作为所述差分信号线对中至少一个线的DC偏移。

16.根据权利要求11所述的通用测试设备，其中接收的二进制数据为被映射至所述被测装置(DUT)的接口协议的物理层的数据。