[发明专利]一种神经刺激电极及其制造方法有效
申请号: | 201710339961.9 | 申请日: | 2017-05-15 |
公开(公告)号: | CN107224666B | 公开(公告)日: | 2023-03-24 |
发明(设计)人: | 於广军;杨旭燕;王伟;杨佳威 | 申请(专利权)人: | 杭州暖芯迦电子科技有限公司 |
主分类号: | A61N1/05 | 分类号: | A61N1/05;B81B7/02 |
代理公司: | 苏州彰尚知识产权代理事务所(普通合伙) 32336 | 代理人: | 潘剑 |
地址: | 311121 浙江省杭州市*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 神经 刺激 电极 及其 制造 方法 | ||
1.一种神经刺激电极制造方法,其特征在于,包括以下步骤:
S1:对半导体衬底进行扩散掺杂处理,使其正背面良性导通;
S2:然后在所述半导体衬底的正面刻蚀出电极阵列结构;
S3:向所述电极阵列结构的沟槽内填充玻璃;
S4:再将所述半导体衬底的正面与一衬片键合;
S5:接着对所述半导体衬底的背面进行减薄,直至完全露出所述电极阵列结构中的玻璃下表面为止;
S6:再对所述半导体衬底的背面进行金属电极图形化;
S7:最终将所述半导体衬底与衬片剥离,形成神经刺激电极。
2.如权利要求1所述的神经刺激电极制造方法,其特征在于,在步骤S1中,所述半导体衬底通过P或B扩散掺杂使其正背面良性导通,所述电极阵列结构整体可均匀间隔设置、不规则排布或两者结合。
3.如权利要求1所述的神经刺激电极制造方法,其特征在于,所述步骤S2具体为:在所述半导体衬底的正面旋涂光刻胶层,再通过曝光和显影工艺形成电极阵列图形,接着对所述电极阵列图形进行深槽刻蚀,形成电极阵列结构。
4.如权利要求1-3任一项所述的神经刺激电极制造方法,其特征在于,所述步骤S3具体为:在所述半导体衬底正面,通过丝网印刷或SOG涂布工艺在电极阵列结构间的沟槽中填充玻璃。
5.如权利要求4所述的神经刺激电极制造方法,其特征在于,在所述步骤S3 中,玻璃填充后,通过氢氟酸漂洗工艺对所述玻璃进行刻蚀处理,露出电极阵列结构中的凸出刺激电极。
6.如权利要求5所述的神经刺激电极制造方法,其特征在于,还可对所述凸出刺激电极进行边角圆滑处理,所述边角圆滑处理具体为:通过CF4/O2混合气体各向同性刻蚀一定时间;再对所述凸出刺激电极表面进行电镀或溅射生物相容性金属处理。
7.如权利要求1所述的神经刺激电极制造方法,其特征在于,所述步骤S4具体为:在所述半导体衬底与衬片上的结合面的其中一面或两面形成粘合层,将所述半导体衬底和所属衬片粘合在一起。
8.如权利要求1所述的神经刺激电极制造方法,其特征在于,所述步骤S6具体为:对所述半导体衬底的背面进行金属溅射形成金属表面,在所述金属表面旋涂光刻胶,并通过曝光和显影工艺打开所需去除区域,通过湿法腐蚀或干法刻蚀工艺去除金属层,并去除表面光刻胶,形成金属电极。
9.如权利要求1所述的神经刺激电极制造方法,其特征在于,所述步骤S6还可为:对所述半导体衬底的背面进行旋涂负性光刻胶或反转胶,曝光显影形成倒角结构,然后溅射金属形成金属表面,再采用化学液剥离的方法,形成金属电极。
10.如权利要求1所述的神经刺激电极制造方法,其特征在于,所述步骤S7具体为:对所述半导体衬底进行加热处理,将衬片与所述半导体衬底分离,加热时的温度范围为150~300℃。
11.如权利要求7-10任一项所述的神经刺激电极制造方法,其特征在于,所述半导体衬底为硅衬底,其厚度为100~1000μm。
12.一种采用权利要求1-11任一项所述神经刺激电极制造方法制造的神经刺激电极,其特征在于,包括电极阵列结构,所述电极阵列结构包括阵列分布的电极衬底,每个所述电极衬底的正面设置有凸出刺激电极,每个所述电极衬底背面形成金属电极,所述电极衬底之间填充玻璃固定及绝缘。
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