[发明专利]一种EMC准峰值测试方法及装置

说明书

本发明实施例公开了一种EMC准峰值测试方法及装置，该方法包括：扫描获取天线在预设高度以及转台在预设角度时辐射信号的全频率段中各频率点对应的初始峰值；根据所述初始峰值在所述各频率点中确认目标频率点；保持所述目标频率点的初始峰值，确认所述初始峰值对应的目标高度和目标角度；结合所述目标高度和所述目标角度获取精确频率点以及所述精确频率点对应的准峰值。通过采用上述技术方案，可有效解决在天线的固定位置读取准峰值时所造成的误差，有效提高准峰值测试的准确性。

技术领域

本发明实施例涉及检测技术领域，特别是涉及一种EMC准峰值测试方法及装置。

背景技术

随着电子产品的工作频率以及数据传输速率的不断提高，EMC(Electro MagneticCompatibility，电磁兼容)问题越来越突出。EMC标准成为国内外多数电子产品的强制性标准，并且几乎所有的电子产品在销售前都需要取得EMC认证。

目前利用半电波暗室测试EMC的方法是以峰值检波的方式为主，而判断频率点是否合格则是通过准峰值检波的方式进行。目前准峰值测试的程序如下：天线位于1米高度的时候，转台旋转360度，然后升高天线到2米，转台再回转360度，以此类推，当天线分别升到3米和4米时，连续测试各频率点的峰值，并获取最大峰值作为准峰值。

然而，由于不同测试样品自身形状、体积、电子电路或结构的不同，辐射发射情况也不同。图1为现有技术提供的电磁波发射空间示意图。如图1所示，电磁波空间发射就像3D增益空间一样为非规则形状的分布。如果单纯地读取天线在固定高度时的准峰值，则可能将最大的准峰值忽略掉。例如，如果在天线位于非整数高度(例如天线位于2.2米的高度)出现最大准峰值时，那么利用现有技术的测试方式将造成测试结果不准确。而若是针对每个不同高度都进行一次测试，又会使得工作量加大，费时费力。因此，现有技术对准峰值的测试可靠性较差。

发明内容

本发明实施例提供了一种EMC准峰值测试方法及装置，以解决现有技术EMC准峰值测试可靠性差的问题。

第一方面，本发明实施例提供了一种EMC准峰值测试方法，包括：

扫描获取天线在预设高度以及转台在预设角度时辐射信号的全频率段中各频率点对应的初始峰值；

根据所述初始峰值在所述各频率点中确认目标频率点；

保持所述目标频率点的初始峰值，扫描确认所述初始峰值对应的目标高度和目标角度；

结合所述目标高度和所述目标角度获取精确频率点以及所述精确频率点对应的准峰值。

第二方面，本发明实施例还提供了一种EMC准峰值测试装置，包括：

初始峰值扫描模块，用于扫描获取天线在预设高度以及转台在预设角度时辐射信号的全频率段中各频率点对应的初始峰值；

目标频率点确认模块，用于根据所述初始峰值在所述各频率点中确认目标频率点；

目标高度和角度确认模块，用于保持所述目标频率点的初始峰值，扫描确认所述初始峰值对应的目标高度和目标角度；

准峰值获取模块，用于结合所述目标高度和所述目标角度获取精确频率点以及所述精确频率点对应的准峰值。

本发明通过提供一种EMC准峰值测试方案，通过扫描获取天线在预设高度以及转台在预设角度时辐射信号的全频率段中各频率点对应的初始峰值后，根据初始峰值在各频率点中确认目标频率点，为准峰值的测试提供依据。在确定目标频率点后，保持目标频率点对应的初始峰值，通过扫描确认出现该初始峰值时，天线所在的目标高度以及转台所在的目标角度，并将目标高度以及目标角度相结合可获取到精确频率点，针对精确频率点获取该点对应的准峰值。解决了现有技术中在天线只位于整数高度位置下进行EMC测试所造成的误差，使得EMC准峰值的测试结果更准确，提升准峰值测试的可靠性。