[发明专利]一种具有高精度波形分析功能的数字示波器有效

专利信息
申请号: 201710333735.X 申请日: 2017-05-12
公开(公告)号: CN108872667B 公开(公告)日: 2022-02-11
发明(设计)人: 蒋文裕;王悦;王铁军;其他发明人请求不公开姓名 申请(专利权)人: 北京普源精电科技有限公司
主分类号: G01R13/02 分类号: G01R13/02
代理公司: 北京品源专利代理有限公司 11332 代理人: 孟金喆
地址: 102206 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 具有 高精度 波形 分析 功能 数字 示波器
【权利要求书】:

1.一种具有高精度波形分析功能的数字示波器,包括采样单元,存储控制单元,存储器,内插单元,压缩单元,波形分析单元,波形绘制单元,显示屏,

所述采样单元,用于对波形数字信号进行采集生成波形采样点数据并发送至所述存储控制单元;

所述存储控制单元,用于接收所述采样单元发送的波形采样点数据并存储至所述存储器;

所述内插单元,用于对所述存储器所存储的波形采样点数据进行数据内插处理,并将处理后的内插数据发送至所述压缩单元;

所述压缩单元,用于对所述存储器的存储数据进行数据压缩处理,产生压缩波形数据;

所述波形分析单元,用于对所述压缩波形数据进行波形分析;

所述波形绘制单元,用于对所述压缩波形数据进行波形绘制;

所述显示屏,用于以波形方式显示波形数据;

其特征在于,

所述压缩单元包括第一压缩单元和第二压缩单元,

所述第一压缩单元,用于对所述存储器的存储数据进行第一次数据压缩处理,产生第一压缩波形数据;

所述第二压缩单元,用于对所述第一压缩波形数据进行第二次压缩处理,产生第二压缩波形数据;

所述波形分析单元,用于对所述压缩波形数据进行波形分析,是指,对所述第一压缩波形数据进行波形分析;

所述波形绘制单元,用于对所述压缩波形数据进行波形绘制,是指,对所述第二压缩波形数据进行波形绘制。

2.如权利要求1所述的数字示波器,其特征在于,还包括主控制单元,所述主控制单元根据所述存储器的存储数据、所述波形分析单元的波形分析点数和所述波形绘制单元的波形绘制点数计算所述内插单元的内插倍数、所述第一压缩单元的压缩倍数和所述第二压缩单元的压缩倍数。

3.如权利要求2所述的数字示波器,其特征在于,所述波形分析点数大于等于所述波形绘制点数。

4.如权利要求2所述的数字示波器,其特征在于,所述主控制单元包括比较单元,计算单元和配置单元,

所述比较单元,用于将所述存储器的存储数据与所述波形分析单元的波形分析点数进行比较得到第一比较结果,将所述波形分析单元的波形分析点数与所述波形绘制单元的波形绘制点数进行比较得到第二比较结果,并将所述第一比较结果和所述第二比较结果发送至所述计算单元;

所述计算单元,用于根据所述比较单元的第一比较结果,计算所述内插单元的内插倍数、所述第一压缩单元的压缩倍数;根据所述比较单元的第二比较结果,计算所述第二压缩单元的压缩倍数,并将计算结果发送至所述配置单元;

所述配置单元,用于将所述计算单元所计算的所述内插单元的内插倍数、所述第一压缩单元的压缩倍数和所述第二压缩单元的压缩倍数进行配置。

5.如权利要求4所述的数字示波器,其特征在于,所述计算单元利用如下公式计算所述内插单元的内插倍数和所述第一压缩单元的压缩倍数:

F=A×intx÷comp1

其中,F为第一压缩单元输出的点数,A为原始波形点数,intx为内插倍数,comp1为第一压缩单元压缩倍数,且上述参数值均为正整数。

6.如权利要求4所述的数字示波器,其特征在于,所述计算单元利用如下公式计算所述内插单元的内插倍数和所述第一压缩单元的压缩倍数:

F=A×intx÷comp1–offset

其中,F为第一压缩单元输出的点数,A为原始波形点数,intx为内插倍数,comp1为第一压缩单元压缩倍数,offset 为偏移量,且上述参数值均为正整数。

7.如权利要求5或者6所述的数字示波器,其特征在于,所述计算单元利用如下公式计算所述第二压缩单元的压缩倍数:

B=F÷comp2

其中,B为第二压缩单元输出的点数,F为第一压缩单元输出的点数,comp2为第二压缩单元压缩倍数;且上述参数值均为正整数。

8.如权利要求7所述的数字示波器,其特征在于,所述第一压缩单元压缩后的波点数为所述第二压缩单元压缩后的波点数的整数倍。

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