[发明专利]一种西林瓶密封完整性的检漏装置及检漏方法在审
申请号: | 201710322595.6 | 申请日: | 2017-05-09 |
公开(公告)号: | CN106908203A | 公开(公告)日: | 2017-06-30 |
发明(设计)人: | 戴伟国;邓平 | 申请(专利权)人: | 上海笙港光学科技有限公司 |
主分类号: | G01M3/02 | 分类号: | G01M3/02;G01N7/00 |
代理公司: | 上海邦德专利代理事务所(普通合伙)31312 | 代理人: | 李阳 |
地址: | 201306 上海市浦东新区南*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 西林 密封 完整性 检漏 装置 方法 | ||
1.一种西林瓶密封完整性的检漏装置,其特征在于:包括机箱(1)、光纤耦合器(2)、准直器(3)、光电探测器(4)、计算机(5),机箱(1)、光纤耦合器(2)和准直器(3)依次连接,光电探测器(4)和计算机(5)分别与机箱(1)连接,所述机箱(1)内部包括激光控制器和采集卡,激光控制器发出的激光经光纤耦合器(2)分成三束光,三束光分别通过三个准直器(3)后穿过待测西林瓶,三条透射后的激光信号由三个光电探测器(4)分别采集,采集得到的数据传输到机箱(1),由与机箱(1)相连的计算机(5)进行分析计算处理。
2.根据权利要求1所述的西林瓶密封完整性的检漏装置,其特征在于:所述采集卡为USB数据采集卡。
3.根据权利要求1或2所述的西林瓶密封完整性的检漏装置的检漏方法,其特征在于:具体步骤如下:
步骤一,打开机箱(1)电源,将由机箱(1)内的激光控制器器发出的激光经光纤耦合器(2)分成三束激光;
步骤二,把西林瓶放到待检位置,调节准直器(3)、西林瓶以及光电探测器(4)的位置;
步骤三,调节激光控制器的温度和电流参数,并由采集卡输出的锯齿波电流调制激光控制器,使激光频率扫描水蒸气的整条吸收谱线;
步骤四,记录三束激光穿过西林瓶后被光电探测器(4)接收并被采集卡所采集到的信号;
步骤五,在计算机(5)上对光电探测器(4)所采集的信号进行处理,根据计算所得的水蒸气浓度值对西林瓶的密封性进行判断。
4.根据权利要求3所述的西林瓶密封完整性的检漏装置的检漏方法,其特征在于:所述步骤三调节激光控制器的温度为16℃,电流参数为200mA,所述激光频率为1000Hz。
5.根据权利要求4所述的西林瓶密封完整性的检漏装置的检漏方法,其特征在于:所述步骤五中计算机(5)上对光电探测器(4)所采集的信号,利用基于法布里-伯罗标准具标定的多项式,将光电探测器采集的信号由时域转换为频域。
6.根据权利要求5所述的西林瓶密封完整性的检漏装置的检漏方法,其特征在于:所述步骤五中利用基于法布里-伯罗标准具标定的多项式为,
y=-0.0418915+0.000275505*x+2.06126e-8*x2-2.45914e-12*x3,y为相对波数值,x即数据采集点数。
7.根据权利要求5或6所述的西林瓶密封完整性的检漏装置的检漏方法,其特征在于:所述步骤五还包括通过去除基线获得水蒸气的吸收谱线。
8.根据权利要求7所述的西林瓶密封完整性的检漏装置的检漏方法,其特征在于:所述步骤五还包括对该水蒸气吸收线进行Voigt拟合并计算积分面积;基于比尔-朗伯定律,水蒸气的浓度可由下式确定:
其中,A为水蒸气吸收光谱线的积分面积,P为总压,L为光程,S(T)为水蒸气吸收谱线强度,是温度T的函数。
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