[发明专利]测序反应装置

说明书

本发明提供了一种测序反应装置，涉及基因测序技术领域；包括反应小室、小室安装板、转动架以及温度测量器；所述的反应小室放置在小室安装板上，转动架转动安装在反应小室的上方；所述的温度测量器包括支撑座、伸缩杆、弹簧以及测温头，支撑座固定在小室安装板上或者固定在转动架上；所述的支撑座上设置有一贯穿孔，伸缩杆底部具有一凸出部，所述的伸缩杆插入支撑座的贯穿孔中；所述的弹簧套在伸缩杆上，且弹簧的一端顶在所述的支撑座上，弹簧的另一端顶在伸缩杆的凸出部上；所述的测温头固定在凸出部的底面上，且凸出部的底面用于贴在所述的反应小室上；本发明的有益效果是：简化了反应小室的安装步骤，提高了温度测量的准确性。

技术领域

本发明涉及基因测序技术领域，更具体的说，本发明涉及一种测序反应装置。

背景技术

基因测序技术是通过基因测序仪来检测核酸，通过数据处理得到核酸序列。目前的基因测序仪，通过将待测DNA片段样片设置在基因测序仪的反应芯片中进行测序反应，测序时反应试剂通过反应流道与待测样片发生测序反应。测序反应结束后通过图像采集装置进行图像采集，再通过后期处理后获得基因序列。

在测序反应发生时，需要通过温度检测装置对反应芯片的温度进行检测，现有技术中的一种温度检测装置，包括弹片和测温探头，测温探头安装在弹片顶端，通过弹片将测温探头压在反应芯片上，对反应芯片进行温度的测量。这种温度检测装置，在反应芯片安装后，需要手动调节弹片的位置，使得反应芯片的安装非常繁琐；同时，会造成弹片与不同的反应芯片接触的区域不同，造成温度测量不准确。

因此需要一种新的测序反应装置，便于反应芯片的安装，并能够对反应芯片的温度进行精准的测量。

发明内容

本发明的目的在于提供一种测序反应装置，旨在解决现有技术中反应芯片的安装繁琐，反应芯片温度测量不准确的问题。

为了实现发明目的，一种测序反应装置，其改进之处在于：包括反应小室、小室安装板、转动架以及温度测量器；所述的反应小室放置在小室安装板上，所述的转动架转动安装在反应小室的上方；

所述的温度测量器包括支撑座、伸缩杆、弹簧以及测温头，所述的支撑座固定在小室安装板上或者固定在转动架上；

所述的支撑座上设置有一贯穿孔，所述的伸缩杆底部具有一凸出部，所述的伸缩杆插入支撑座的贯穿孔中；所述的弹簧套在伸缩杆上，且弹簧的一端顶在所述的支撑座上，弹簧的另一端顶在伸缩杆的凸出部上；所述的测温头固定在凸出部的底面上，且凸出部的底面用于贴在所述的反应小室上。

上述的结构中，所述支撑座的贯穿孔为台阶孔，该台阶孔包括第一通孔和第二通孔，第一通孔和第二通孔呈圆柱状，且第一通孔的内径小于第二通孔的内径；所述弹簧的顶端顶在第一通孔与第二通孔的台阶处。

上述的结构中，所述支撑座下部设置有一固定块，该固定块上设置有固定孔，所述小室安装板上对应的设置有螺孔，所述的支撑座固定在小室安装板上。

上述的结构中，所述伸缩杆的凸出部的底面上设置有一安装槽，所述的伸缩杆上设置有贯穿其顶面与底面的通孔，且该通孔与所述的安装槽相连通；

所述的测温头包括探头本体和连接导线，连接导线的一端与探头本体电性连接，所述的连接导线从伸缩杆上的通孔中穿过，且所述探头本体设置在凸出部的安装槽内。

上述的结构中，所述伸缩杆的上端设置有至少一个卡槽，且卡槽设置有卡簧，所述卡簧用于对伸缩杆进行限位，防止伸缩杆从支撑座的贯穿孔中掉落。

上述的结构中，所述的支撑座呈长方体形，所述的贯穿孔位于支撑座的一端，支撑座的另一端设置有固定孔，所述的支撑座固定在转动架上。

上述的结构中，所述小室安装板上设置有多个定位凸台，所述反应小室的侧边抵靠在所述的定位凸台上；