[发明专利]一种评价杂交谷子穗上空秕粒分布的方法

说明书

本申请提供一种评价杂交谷子穗上空秕粒分布的方法，涉及农业领域，通过对张杂谷系列杂交谷子的整穗空秕系数、空秕粒分布均匀性指数等参数进行测定，客观反映谷穗的秕谷分布情况，对研究杂交谷子灌浆规律，防止空秕粒产生具有指导意义，解决了现有评价方法中由于谷子籽粒较小而造成的误差。

技术领域

本申请涉及一种评价杂交谷子穗上空秕粒分布的方法。

背景技术

张杂谷系列杂交谷子具抗旱、适应范围广及增产潜力大等优点。但是，杂交谷子属于大穗型品种，在不同地区推广过程中，往往会出现较多的空秕粒。因而，研究空秕粒的多少及其在穗上的分布规律，进而研究杂交谷子灌浆规律，是在谷子培育过程中防止空秕粒产生的重要环节。由于谷子籽粒较小，无法按照大籽粒作物的方法定量分析空秕粒的分布规律。

目前，尚没有类似杂交谷子空秕粒分布规律评价方法，基于这种空白，本申请提供一种客观评价杂交谷子穗上空秕粒分布的方法。

发明内容

本申请针对现有评价体系的不足，提供一种评价杂交谷子穗上空秕粒分布的方法，以对杂交谷子穗上空秕粒分布进行有效地评价，为后续谷子生长环节的改进提供客观依据。

本申请的技术方案设计如下：

将风干后自然弯曲的谷穗分为基部、中部、尖部三个分段，所述基部、中部、尖部三个分段各占总穗长的1/3，沿谷穗侧中线依次将上述三个分段拆分，基部拆分为基部上方(基上部)、基部下方(基下部)，中部拆分为中部上方(中上部)、中部下方(中下部)，尖部拆分为尖部上方(尖上部)和尖部下方(尖下部)，共计拆分成6个部分，拆分取样时，沿侧中线将基部、中部和尖部的上、下部小穗分开，去掉主穗轴，将未拆分的整谷穗及拆分后的6个部分分别称重，记作We,We1,We2,We3,We4,We5,We6，然后，将上述拆分后的6个部分分别脱粒，称重，分别记作Wg1,Wg2,Wg3,Wg4,Wg5,Wg6；

各部位出谷率：Gi＝Wgi/Wei，其中i＝1,2,3,4,5,6；

各部位出谷率差：Di＝Gmax-Gi

当对单穗各部位间进行比较时，Gmax指代各部位出谷率中的最大值，假设该部位无空秕粒，认为Di是由于空秕粒的存在造成的，通过测定各部位出谷率差，衡量单个谷穗的谷粒生长状况。

当对单穗各部位间进行比较时，Gmax指代单穗中各部位出谷率中的最大值；当对多株谷穗进行空秕粒分布比较时，Gmax指代所有处理谷穗中各部位出谷率的最大值；

各部位空秕系数：

整穗空秕系数：

整穗空秕系数E反映了空秕率，整穗空秕系数E值越高，相应部位的空秕率就越高。

空秕系数的标准差：其中n＝6，μ为Ei的算术平均值。

6部位空秕系数的标准差(空秕粒分布均匀性指数，Dd)反映空秕粒在穗上的分布情况，标准差大，说明空秕粒在不同部位的分布差异越大；标准差越小，表明空秕粒分布越均匀。

以上测定均排除了谷壳、主穗轴及小穗轴的干扰。

本发明的有益效果在于：

本申请解决了现有的评价方法中由于谷子籽粒较小而造成的误差，通过本申请中对张杂谷系列杂交谷子的整穗空秕系数、空秕系数的标准差等参数进行测定，客观反映了谷穗的秕谷分布情况，对研究杂交谷子灌浆规律，防止空秕粒产生具有指导意义。

附图说明

附图仅用于示出优选实施方式的目的，而并不认为是对本发明的限制。而且在整个附图中，用相同的参考符号表示相同的部件。在附图中：

图1描述了本发明实施例中谷穗的取样示意图；