[发明专利]一种基于LR-几何插值的电磁成像超分辨方法

权利要求书

1.一种基于LR-几何插值的电磁成像超分辨方法，其特征在于实现步骤如下：

步骤1，获得未知辐射源的降质图像，估计辐射源的大致位置，在仿真软件中建立相应的仿真模型，获得点源的电磁分布图像，即点扩展函数；

步骤2，对降质图像中的像素点每两个进行几何平均运算，将运算后的值赋予中间待插值像素点，从而将图像总像素点数从N*M增加至(2N-1)*(2M-1)个，得到几何平均插值的降质图像，M,N分别为图像长边和宽边的像素点数；

步骤3，利用步骤1中得到的点扩展函数，对经过几何平均插值的降质图像使用LR迭代图像恢复算法进行图像恢复；

所述步骤1具体实现如下：根据获得的降质图像，识别图中所有信号峰值的位置，即图像像素梯度为0的位置，根据公式估计辐射源在物面上的位置，其中D1，D2分别为成像面及辐射源物面到成像系统轴原点距离，d1x,d2x分别为成像面上信号峰值及物面辐射源x轴方向偏离成像系统轴线距离，d1y,d2y分别为成像面上信号峰值及物面辐射源y轴方向偏离成像系统轴线距离，根据估计得到的位置，利用仿真软件FEKO建立相应的仿真模型，得到点扩散函数。

2.根据权利要求1所述的基于LR-几何插值的电磁成像超分辨方法，其特征在于：所述步骤2具体实现如下：

a:对图像x方向像素点两两进行相关运算，相关运算结果赋给中间插值点；

b:对图像y方向像素点两两进行相关运算，相关运算结果赋给中间插值点；

c:根据几何平均的计算方式，将有镂空像素点的图像补充完全，得到几何插值后待恢复图像。

3.根据权利要求1所述的基于LR-几何插值的电磁成像超分辨方法，其特征在于：所述步骤3具体实现如下：

a：输入待恢复降质图像I，输入电磁成像系统点扩散函数PSF，输入迭代次数NUMIT,初始化恢复图像；

b：初始化恢复图像J{1}＝I，如果点扩散函数PSF的采样率高于降质图像I，则对点扩散函数进行进一步亚采样，使点扩散函数图像采样率和输入图像I相同；

c：确定算法的迭代核为：

其中J^t+1为最新一次迭代得到的恢复图像，J^t为前一次迭代得到的图像，PSF为点扩散函数,B＝Possion(J*PSF)为图像降质的泊松过程；

d：对输入图像使用步骤3中迭代核进行迭代，并对每次结果进行正则性检验；

e：根据输入迭代次数停止迭代，输出最新一次迭代得到的恢复图像J。