[发明专利]一种存储卡卡座性能的测试装置

说明书

技术领域

本发明涉及测试领域，尤其涉及一种存储卡卡座性能的测试装置。

背景技术

目前，存储卡采用闪存作为存储介质，已经可以存储越来越多的信息，成为便携式信息设备中不可或缺的部分。因此在便携式信息设备中，例如手机、个人数字助理(PDA，Personal Digital Assistance)等得到了广泛的应用。现有的存储卡可以包括：安全数码(SD，Securedigital)卡、用户识别模块(SIM，Subscriber Identify Module)卡、多媒体卡(MMC，Multi-Media Card)等等。

存储卡可通过存储卡卡座(也可称为卡座连接器)与便携式信息设备连接，通过将存储卡插装在存储卡卡座中，再将存储卡卡座装在便携式信息设备上，从而实现存储卡与便携式信息设备的连接。因此对存储卡卡座性能的测试是尤为重要的，特别是在金融支付领域，如果存储卡卡座出现异常，可能会使金融交易中数据丢失、出错等造成交易无法进行。

目前对存储卡卡座性能测试采用的方法主要是直接将符合标准的存储卡插入待测试的存储卡卡座，通过与存储卡卡座连接的便携式信息设备读取存储卡内的数据，根据读取到的数据是否出现异常来判断存储卡卡座的性能，但存在不足：

1、存储卡卡座大多数都为翻盖式，即为非拔插式卡座，必须由操作人员先将卡座的保护盖掀开再将存储卡装入方可进行相应的功能测试，测试结束后又执行取卡、压合保护盖的动作，看似一个简单动作在大量重复操作时同样会流失相当可观的人工成本，一定程度上制约着产品大批量快速测试；

2、存储卡卡座本身也存在一定的使用寿命，操作人员经过频繁连续的工作后，很难主观地保证对存储卡卡座掀盖、压合这个动作的一致性和连贯性，由此可能导致存储卡卡座本身的损坏，更因此增加了产品返修的人物力投入；

3、存储卡在整个操作过程中频繁取放，存储卡的金手指接触端也因此存在很大程度的磨损，最终将导致存储卡测试失效，无形中也增加了一定数量的测试耗材成本。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是：提供一种高效的存储卡卡座性能的测试装置。

为了解决上述技术问题，本发明采用的技术方案为：

一种存储卡卡座性能的测试装置，包括上底座和下底座；

所述上底座设有待测试的存储卡卡座，所述存储卡卡座包括与读取存储卡内数据的读取装置电连接的金属弹片；

所述下底座设有FPC测试条，用于上底座和下底座进行压合操作时，与金属弹片电连接；所述FPC测试条上设有与之电连接的存储卡。

本发明的有益效果在于：

本发明提供的一种存储卡卡座性能的测试装置，通过设置在上底座的待测试的存储卡卡座以及设置在下底座的FPC测试条，在现有的控制装置的作用下进行压合或者分离操作，当上底座和下底座进行压合操作时FPC测试条与金属弹片电连接，此时读取装置通过金属弹片、FPC测试条读取到存储卡内的数据，根据读取到的数据是否出现异常来判断待测试的存储卡卡座的性能。在测试过程中，FPC测试条与存储卡接口采用压合的方式，有别于传统的插卡测试，不仅有效减少接触端的磨损，避免造成硬件耗损，而且无需放卡、取卡、压合保护盖的步骤，只需简单压合上底座和下底座即可，因而提升测试效率，进一步的，由原本的金属弹片与存储卡直接接触电连接改为间接电连接，存储卡与FPC测试条是固定连接，因此可有效减少存储卡的损坏。

附图说明

图1为本发明的存储卡卡座性能的测试装置的结构示意图；

标号说明：

1、下底座；11、FPC测试条；111、金手指区域；1111、金手指；112、安装孔；113、定位孔；12、安装块；121、条形凸台；1211、第一侧面；

1212、第二侧面；122、定位柱；123、螺丝孔；124、条形通孔；125、导轴；126、挡板；1261、倾斜部；13、安装部。

具体实施方式

为详细说明本发明的技术内容、所实现目的及效果，以下结合实施方式并配合附图予以说明。

本发明最关键的构思在于：通过设置在上底座的待测试的存储卡卡座以及设置在下底座的FPC测试条，在现有的控制装置的作用下进行压合或者分离操作，读取装置通过金属弹片、FPC测试条读取到存储卡内的数据，根据读取到的数据是否出现异常来判断待测试的存储卡卡座的性能。

请参照图1，本发明提供的一种存储卡卡座性能的测试装置，包括上底座和下底座1；