[发明专利]一种存储卡卡座性能的测试装置在审

专利信息
申请号: 201710285514.X 申请日: 2017-04-27
公开(公告)号: CN107015033A 公开(公告)日: 2017-08-04
发明(设计)人: 郑添杰;施锦才 申请(专利权)人: 福建联迪商用设备有限公司
主分类号: G01R1/04 分类号: G01R1/04
代理公司: 福州市博深专利事务所(普通合伙)35214 代理人: 林志峥
地址: 350000 福建省福州市鼓*** 国省代码: 福建;35
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摘要:
搜索关键词: 一种 存储 卡座 性能 测试 装置
【权利要求书】:

1.一种存储卡卡座性能的测试装置,其特征在于,包括上底座和下底座;

所述上底座设有待测试的存储卡卡座,所述存储卡卡座包括与读取存储卡内数据的读取装置电连接的金属弹片;

所述下底座设有FPC测试条,用于上底座和下底座进行压合操作时,与金属弹片电连接;所述FPC测试条上设有与之电连接的存储卡。

2.根据权利要求1所述的存储卡卡座性能的测试装置,其特征在于,所述存储卡卡座设置在上底座下表面,所述FPC测试条设置在下底座上表面,所述存储卡卡座与FPC测试条相对设置。

3.根据权利要求1所述的存储卡卡座性能的测试装置,其特征在于,所述下底座上设有用于固定FPC测试条的安装块;所述安装块上设有条形凸台、定位柱和螺丝孔,所述条形凸台的两侧均设有定位柱和螺丝孔。

4.根据权利要求3所述的存储卡卡座性能的测试装置,其特征在于,所述条形凸台的一侧的定位柱的数量为一个,螺丝孔的数量为两个,定位柱位于两个螺丝孔之间。

5.根据权利要求4所述的存储卡卡座性能的测试装置,其特征在于,所述定位柱与条形凸台之间设有固定间隔;所述定位柱与条形凸台之间的固定间隔为5mm。

6.根据权利要求4所述的存储卡卡座性能的测试装置,其特征在于,所述螺丝孔与条形凸台之间设有固定间隔;所述螺丝孔与条形凸台之间的固定间隔为5mm。

7.根据权利要求3所述的存储卡卡座性能的测试装置,其特征在于,所述FPC测试条上至少设有一个用于与待测试的存储卡卡座的金属弹片电连接的金手指区域,所述金手指区域的两侧均设有安装孔和与定位柱相适配的定位孔;

所述金手指区域抵靠在条形凸台上;螺丝穿过安装孔与螺丝孔连接,使FPC测试条固定在安装块上。

8.根据权利要求7所述的存储卡卡座性能的测试装置,其特征在于,所述条形凸台与金手指区域的接触面的面积与金手指区域的面积相等。

9.根据权利要求8所述的存储卡卡座性能的测试装置,其特征在于,所述条形凸台的两端分别设有垂直于条形凸台上表面的延伸部,所述金手指区域位于两个延伸部之间。

10.根据权利要求7所述的存储卡卡座性能的测试装置,其特征在于,所述条形凸台包括分别由条形凸台上表面相对两侧延伸的第一侧面和第二侧面,所述第一侧面与条形凸台上表面相垂直,所述第二侧面与条形凸台上表面所成的夹角为钝角。

11.根据权利要求10所述的存储卡卡座性能的测试装置,其特征在于,所述金手指区域内设有多个相互平行的金手指,所述金手指为长方形,所述金手指的长度大于宽度的两倍。

12.根据权利要求11所述的存储卡卡座性能的测试装置,其特征在于,所述金手指的长度为2.5mm,所述金手指的宽度为0.8mm。

13.根据权利要求11所述的存储卡卡座性能的测试装置,其特征在于,相邻两个金手指的间隔为0.3mm。

14.根据权利要求11所述的存储卡卡座性能的测试装置,其特征在于,相邻两个金手指的中心距与存储卡卡座上的相邻金属弹片的中心距相等。

15.根据权利要求11所述的存储卡卡座性能的测试装置,其特征在于,所述金手指包括接触部和传导部,所述接触部为位于金手指上远离存储卡的区域,所述传导部为位于金手指上靠近存储卡的区域,且位于接触部与存储卡之间。

16.根据权利要求15所述的存储卡卡座性能的测试装置,其特征在于,所述传导部上设有覆膜涂层。

17.根据权利要求3所述的存储卡卡座性能的测试装置,其特征在于,所述安装块上设有供FPC测试条穿过的条形通孔。

18.根据权利要求17所述的存储卡卡座性能的测试装置,其特征在于,所述下底座上对应位于安装块上的条形通孔位置设有供FPC测试条穿过的条形通孔,位于下底座上的条形通孔的径向长度大于位于安装块上的条形通孔的径向长度。

19.根据权利要求3所述的存储卡卡座性能的测试装置,其特征在于,还包括与条形凸台平行的导轴;所述下底座上表面对应导轴两端位置分别设有一个安装部,所述导轴两端分别与两个安装部连接;所述安装块与导轴可滑动连接。

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