[发明专利]用于探测应用的到RF适配器的差分引脚

说明书

RF适配器的差分引脚包括一端具有RF连接器并且另一端具有信号接触件的中心导体接触件。绝缘套筒围绕中心接触件。参考接触件围绕绝缘套筒。差分对的信号引脚与RF连接器的中心导体接触件相接合。适配器被构造成在一对引脚/引线上向下滑动，使得参考接触件邻接连接到引脚的电路板。引脚/引线一直被屏蔽到电路板上，其屏蔽/隔离引脚免受共模和其他类型的干扰。适配器在测试期间保持信号引脚和参考引脚的形状。适配器保持引脚的固定阻抗，其减少或消除不受控制的阻抗，从而保持系统频率响应并减少/消除错误的纹波电流。

相关申请的交叉引用

本申请要求于2016年3月18日提交的序号为62/310,159的题为“Square Pin toRF Adapter For Probing Application”美国临时专利申请的权益，该美国临时专利申请如同对其整体复制一样通过引用并入本文。

技术领域

本公开涉及用于信号探测的机构，并且，更具体地，涉及用于从正方形或圆形引脚/引线接合到用于由测试和测量系统测试的同轴射频(RF)连接器的适配器。

背景技术

已经开发了各种系统来测量来自被测装置(DUT)的差分信号。有各种方式将测试系统连接到DUT。这些方式可能包括焊接连接、RF连接器、压力接触件、导线/引线、引脚、适配器、插入件、别针等。将测试系统连接到DUT的通用接口是通过使用被焊接到差分测试点的一对引脚/短导线实现的，然后将该差分测试点连接到测试系统。这种系统的问题是，环境电场可能与缺乏屏蔽的暴露的引线/引脚相互作用，从而将干扰注入到被测信号中。注入两个引线/引脚的干扰被称为共模干扰。暴露的引线/引脚可能经历共模干扰和影响单独引线/引脚的干扰两者。没有将差分信号与暴露的引线/引脚上的这些干扰隔离开的机构，这导致由测试系统测量但不存在于实际DUT的差分信号中的附加信号噪声。此外，保持这些差分引线/引脚的均匀受控阻抗支持可重复的测量，而没有降低频率响应。然而，真正的暴露引线/引脚可能会在测试过程中显著弯曲和改变位置。使暴露的引线弯曲会改变差分对的相应阻抗。这种不受控制的阻抗改变了测试系统处信号的频率响应，导致带宽损耗和纹波电流。因此，暴露的引线降低了测试系统获得的测试测量结果的精度，特别是当测量具有较高频率含量的差分信号时。

本发明的实施例解决现有技术中的这些和其他问题。

发明内容

所公开的主题的实施例包括到RF适配器的差分引脚。适配器包含在一端上的具有RF连接器的中心接触件以及在另一端上的信号接触件。绝缘套筒围绕中心接触件。参考接触件围绕绝缘套筒。采用诸如片簧的固定元件将差分对的参考引脚与参考/屏蔽接触件衔接。差分对的信号引脚与中心接触件相接合。保护层围绕固定元件和参考接触件。适配器被构造成向下滑过差分对，使得外部参考/屏蔽接触件邻接附接到引脚的电路板。以这种方式，差分引脚(例如引线)完全被屏蔽到电路板的表面下，该电路板的表面屏蔽/隔离引脚免受共模和其他类型的干扰。此外，选择适配器的接触间距以匹配引脚间距。照此，适配器在测试期间保持信号引脚和参考引脚的形状。因此，适配器保持差分对的固定/受控阻抗，其减小或消除阻抗变化，并因此保持系统频率响应以及减少/消除错误的纹波电流。RF连接器可以是期望连接到相应探头的任何类型的RF连接器。在一些实施例中，衰减器位于RF连接器和信号接触件之间。衰减器减小与差分信号相关的增益，以增加测试系统的输入信号范围。适配器中的衰减器允许采用更宽范围的RF连接器(例如，没有预调理电路的RF连接器)。

因此，在至少一些实施例中，到RF适配器的差分引脚包括具有近端和远端的中心接触件，所述近端包括RF连接器，并且所述远端包括构造成与差分对的信号引脚相接合的信号接触件。适配器还包括围绕中心接触件的绝缘套筒。此外，适配器包括参考/屏蔽接触件，该参考/屏蔽接触件通过绝缘套与中心接触件分开并且被构造成与差分对的参考引脚相接合。