[发明专利]基于扩展形态学和导向滤波的高光谱图像分类方法在审
申请号: | 201710277856.7 | 申请日: | 2017-04-25 |
公开(公告)号: | CN107122799A | 公开(公告)日: | 2017-09-01 |
发明(设计)人: | 白静;公文静;宋淑;徐航;张博;缑水平;张向荣;李阳阳 | 申请(专利权)人: | 西安电子科技大学 |
主分类号: | G06K9/62 | 分类号: | G06K9/62 |
代理公司: | 陕西电子工业专利中心61205 | 代理人: | 韦全生,王品华 |
地址: | 710071 陕*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 扩展 形态学 导向 滤波 光谱 图像 分类 方法 | ||
1.一种基于扩展形态学和导向滤波的高光谱分类方法,包括如下步骤:
(1)输入一幅包含d个波段数的待分类高光谱图像X及该图像X的类别标签;
(2)采用主成分分析方法,对高光谱图像X进行降维,得到高光谱图像X前c个主成分PC;
(3)采用扩展形态学方法,提取高光谱图像X前c个主成分PC中每个主成分的特征,得到到c×λ个形态学开特征图Πγ和c×λ个形态学闭特征图Πφ,其中,λ为整数;
(4)对形态学开特征图Пγ和形态学闭特征图Пφ分别进行导向滤波,并将滤波后的特征进行组合,得到高光谱图像X的特征集GEMP。
(5)根据高光谱图像X的类别标签,从特征集GEMP的每一类样本中随机抽取一定比例的样本作为训练集,剩余样本作为测试集;
(6)利用抽取出的训练集及该训练集中各样本对应的类别标签,对支持向量机进行训练,并利用训练好的支持向量机对测试集进行分类,得到分类后的高光谱图像X”;
(7)输出分类后的高光谱图像X”,并计算分类精度。
2.根据权利要求1所述的基于扩展形态学和导向滤波的高光谱分类方法,其特征在于,步骤(3)所述的提取高光谱图像X前c个主成分中每个主成分的特征,实现步骤为:
(3a)对高光谱图像X前c个主成分PC中的每一个主成分进行λ次开运算,得到c×λ个形态学开特征图Пγ,其中,任一主成分PCs的第m个形态学开特征图可以表示为:
其中,1≤m≤λ,表示开重构算子,且e表示结构元素的大小,εe表示腐蚀操作,表示基于膨胀的重构操作;
(3b)对高光谱图像X前c个主成分PC中的每一个主成分进行λ次闭运算,得到c×λ个形态学闭特征图Пφ,其中,任一主成分PCs的第m个形态学闭特征图可以表示为:
其中,表示闭重构算子,且δe表示膨胀操作,表示基于腐蚀的重构操作。
3.根据权利要求1所述的基于扩展形态学和导向滤波的高光谱分类方法,其特征在于,步骤(4)所述的高光谱图像X的特征集GEMP,其获取步骤为:
(4a)对高光谱图像X前c个主成分PC中的每一个主成分的λ个形态学开特征图Πγ分别进行导向滤波,得到λ个形态学开特征图Πγ的滤波输出值其中,对高光谱图像X前c个主成分PC中的任一主成分PCs的第m个形态学开特征图进行导向滤波,得到形态学开特征图的滤波输出值实现过程为:
将高光谱图像X前c个主成分PC中的任一主成分PCs的第m个形态学开特征图作为导向滤波器的输入图像,形态学开特征图对应的主成分PCs作为导向滤波器的导向图像,对输入图像进行导向滤波,得到滤波输出值其中,对输入图像中i处像素进行导向滤波,得到输入图像中i处像素的滤波输出值
其中,表示形态学开特征图像中j处像素的特征值,Wij表示滤波权值,且wk表示第k个核函数窗口,k为正整数,|w|表示窗口wk内像素的个数,和分别表示引导图像PCs在窗口wk内的均值和方差,ε为平滑因子;
(4b)对高光谱图像X前c个主成分PC中的每一个主成分的λ个形态学闭特征图Πφ分别进行导向滤波,得到λ个形态学闭特征图Пφ的滤波输出值其中,对高光谱图像X前c个主成分PC中的任一主成分PCs的第m个形态学闭特征图进行导向滤波,得到形态学闭特征图的滤波输出值实现过程为:
将高光谱图像X前c个主成分PC中的任一主成分PCs的第m个形态学闭特征图作为导向滤波器的输入图像,形态学闭特征图对应的主成分PCs作为导向滤波器的导向图像,对输入图像进行导向滤波,得到滤波输出值其中,对输入图像中a处像素进行导向滤波,得到输入图像中a处像素的滤波输出值
其中,表示形态学闭特征图像中b处像素的特征值,Wab表示滤波权值,且
(4c)将高光谱图像X前c个主成分PC中每个主成分的λ个形态学开特征图Πγ的滤波输出值和每个主成分的λ个形态学闭特征图Пφ的滤波输出值进行组合,得到每个主成分基于导向滤波的扩展形态学特征GMP(PCs);
(4d)高光谱图像X前c个主成分PC基于导向滤波的扩展形态学特征集GEMP可以表示为:
GEMP={GMP(PC1),GMP(PC2),...,GMP(PCs),...,GMP(PCc)}。
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