[发明专利]一种拉曼光谱仪样品台及其原位测试光谱的方法在审

专利信息
申请号: 201710266449.6 申请日: 2017-04-21
公开(公告)号: CN107024465A 公开(公告)日: 2017-08-08
发明(设计)人: 王超;张晓昀;刁东风 申请(专利权)人: 深圳大学
主分类号: G01N21/65 分类号: G01N21/65;G01N21/01
代理公司: 深圳市君胜知识产权代理事务所(普通合伙)44268 代理人: 王永文,刘文求
地址: 518060 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 光谱仪 样品 及其 原位 测试 光谱 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及光谱仪领域,尤其涉及的是一种拉曼光谱仪样品台及其原位测试光谱的方法。

背景技术

目前,应用于拉曼光谱仪上的外加环境样品台种类偏少。实验室中已有的温度样品台可以使样品处于非室温环境下被观测,实现了改变样品所处的温度环境的效果,而当需要在磁场环境下观测样品时,世界上尚未开展磁场环境下拉曼光谱的探索,没有可适用于拉曼光谱仪的磁场环境装置,缺少相应设备,致使实验室无法获取不同磁场强度下测试物的拉曼光谱数据,因此无法满足实验环境的要求。

因此,现有技术有待于进一步的改进。

发明内容

鉴于上述现有技术中的不足之处,本发明的目的在于为用户提供一种拉曼光谱仪样品台及其原位测试光谱的方法,克服现有技术中不能提供在不同磁场强度下获取测试物拉曼光谱数据的缺陷。

本发明解决技术问题所采用的技术方案如下:

一种拉曼光谱仪样品台,其中,用于为拉曼光谱仪提供水平磁场环境,所述样品台包括:

用于支撑整个样品台的底座;

固定在所述底座上,用于支撑第一磁铁和第二磁铁的磁铁支架;

对应设置用于产生水平磁场,且安装在所述磁铁支架上的所述第一磁铁和第二磁铁;

设置在所述第一磁铁与第二磁铁的之间,用于放置样品的放置块;

所述放置块设置在所述样品台的中间位置,所述磁铁支架分别位于所述放置块的两侧。

所述的拉曼光谱仪样品台,其中,所述磁铁支架包括:分别设置在底座两端上方的第一支架和第二支架,以及紧邻所述放置块设置的第三支架和第四支架;

所述第三支架、第四支架与放置块之间组成凹槽形样品放置区。

所述的拉曼光谱仪样品台,其中,所述第一磁铁为电磁铁或永磁铁,所述第二磁铁为电磁铁或永磁铁。

所述的拉曼光谱仪样品台,其中,所述第一支架、第二支架、第三支架和第四支架上均设置有安装孔:所述安装孔用于固定电磁铁的两端,或者用于放置永磁铁。

所述的拉曼光谱仪样品台,其中,所述样品台还设置有顶盖;

所述顶盖置于磁铁与样品上方,且所述顶盖与放置块相对应位置设置有用于进行拉曼光谱测试的测试口。

所述的拉曼光谱仪样品台,其中,所述样品台的磁铁支架四周还设置有用于对第一磁铁和第二磁铁发出的磁场进行屏蔽的前侧板、后侧板、左侧板和右侧板。

所述的拉曼光谱仪样品台,其中,所述前侧板或/和后侧板与放置块上方样品放置区相对应的位置,设置有磁场强度测试口。

所述的拉曼光谱仪样品台,其中,所述前侧板、后侧板、左侧板、右侧板、顶盖以及底座组成所述样品台外壳,所述样品台外壳为长方体形状、圆柱体形状或者椭球体形状。

所述的拉曼光谱仪样品台,其中,所述第一磁铁或第二磁铁为圆柱体型磁铁、蹄形磁铁或者长方体型磁铁。

所述的拉曼光谱仪样品台用于原位测试光谱的方法,其中,包括步骤:

步骤A、将样品台放置于拉曼光谱仪的载物台上;

步骤B、测量样品区的磁场强度,并将所述磁场强度调节至预定数值;

步骤C、获取当前磁场强度下样品的拉曼光谱数据。

有益效果,本发明提供了一种拉曼光谱仪样品台及其原位测试光谱的方法,用于为拉曼光谱仪提供水平磁场环境,所述样品台包括:底座;固定在所述底座上的磁铁支架;安装在所述磁铁支架上,且对应设置用于产生水平磁场的第一磁铁和第二磁铁;设置在所述第一磁铁与第二磁铁的之间,用于放置样品的放置块;所述放置块设置在所述样品台的中间位置,所述磁铁支架分别位于所述放置块的两侧。所述样品台可以直接放置到拉曼光谱仪的载物台上,实现为实验室提供可以在不同磁场强度下样品的拉曼光谱数据,为实验提供条件,提高了实验操作效率。

附图说明

图1是本发明所提供的拉曼光谱仪样品台结构示意图。

图2是本发明所述提供的样品台添加上外壳后的结构示意图。

图3是本发明所述样品台上的样品放置到拉曼光谱仪的载物台上进行测试的示意图。

图4是本发明所述样品台应用于原位测试光谱的方法步骤流程图。

图5a为样品未置于磁场环境下获取的拉曼光谱图。

图5b为使用本发明提供的样品台将样品置未接入电流的磁场环境下获取到的拉曼光谱图。

图5c为使用本发明提供的样品台将样品置于接入0.2A电流的磁场环境下获取到的拉曼光谱图。

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