[发明专利]芯片测试模式的进入方法在审
| 申请号： | 201710264480.6 | 申请日： | 2017-04-21 |
| 公开（公告）号： | CN106918775A | 公开（公告）日： | 2017-07-04 |
| 发明（设计）人： | 孔欣 | 申请（专利权）人： | 成都锐成芯微科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 610041 四川省成都市高新*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 模式 进入 方法 | ||
1.一种芯片测试模式的进入方法，包括以下步骤：
将芯片的复位端子作为时钟信号输入端，将芯片的普通输入端子作为数据信号输入端；
所述普通输入端子输入组合为测试模式辨别码和测试模式类型码的输入码流；
当所述测试模式辨别码匹配所述芯片中用于进入测试模式的预设值时，确定所述芯片要进入测试模式；
保存所述测试模式类型码，在码流输入结束后，所述普通输入端子保持高电平；以及
在所述复位端子解除复位状态后，进入所述芯片的测试模式。
2.根据权利要求1所述的芯片测试模式的进入方法，其特征在于：所述复位端子解除复位状态即所述复位端子由低电平转换为高电平。
3.根据权利要求2所述的芯片测试模式的进入方法，其特征在于：所述方法还包括以下步骤：当所述复位端子由高电平转换为低电平时，所述芯片退出测试模式，进入复位状态。
4.根据权利要求3所述的芯片测试模式的进入方法，其特征在于：所述方法还包括以下步骤：当所述复位端子再次解除复位状态，且所述普通输入端子保持低电平时，清除测试模式的设置。
5.根据权利要求1所述的芯片测试模式的进入方法，其特征在于：在所述芯片进入测试模式之前，在所述芯片中预先设置用于进入测试模式的预设值。
6.根据权利要求1所述的芯片测试模式的进入方法，其特征在于：所述普通输入端子不输入组合为测试模式辨别码和测试模式类型码的输入码流，所述芯片进入用户模式。
7.根据权利要求1所述的芯片测试模式的进入方法，其特征在于：当所述测试模式辨别码不匹配所述预设值时，所述复位端子将作为复位功能使用，在所述复位端子解除所述复位状态后，直接进入所述芯片的用户模式。
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