[发明专利]一种液晶面板组件在审

专利信息
申请号: 201710262339.2 申请日: 2017-04-20
公开(公告)号: CN106873223A 公开(公告)日: 2017-06-20
发明(设计)人: 邬金芳;李亚锋 申请(专利权)人: 武汉华星光电技术有限公司
主分类号: G02F1/1333 分类号: G02F1/1333
代理公司: 北京聿宏知识产权代理有限公司11372 代理人: 吴大建,何娇
地址: 430070 湖北省武汉市*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 一种 液晶面板 组件
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种液晶显示技术,特别涉及一种液晶面板组件。

背景技术

由于液晶显示技术工艺成熟,成本较低,可以实现高像素及窄边框的优点,具有极大的市场竞争优势。现在市场需求液晶面板的边框越来越窄,现主要通过采用COA技术集成电路、缩小薄膜晶体管的尺寸、减小线宽线间距以及缩小框胶的宽度来实现液晶面板的窄边框化。

但是目前这种解决方法中缩小薄膜晶体管的尺寸和减小线宽线间距可能会引起液晶面板的加载时间增加以及充电不足,并且对于液晶面板的制程也会有不良影响,引起断线或短路;缩小框胶宽度则可能导致组立时框胶粘附力不足引起液晶盒的剥离。并且,这样对于缩小边框的贡献是有限的,不能完全满足市场对于窄边框的需求。

目前为了应对市场对于超窄边框的液晶显示装置的需求,采用了一种先贴合后切割的技术。即,首先将两块大基板贴合成液晶面板组件,液晶面板组件中包含了多个超窄边框的液晶面板。然后对液晶面板组件进行切割,将其中的多个液晶面板分割开来。在液晶面板组件内,多块液晶面板呈矩阵排列。每一行的液晶面板与其相邻的一行的液晶面板呈镜像对称排布。相邻两行液晶面板的顶端对顶端或者末端对末端。

然而,在制作液晶盒的过程中需要将阵列基板上的像素电极和彩膜基板上的色阻一一对齐,但由于像素电极采用透明的材质制作,而色阻为基本色的透光材料制作,并且像素电极的尺寸和色阻的尺寸特别小,很难直接观测到像素电极与色阻之间的偏移量的大小,现有技术中无法对液晶面板中的彩膜基板和阵列基板的装配精度进行监控。另外,由于相邻两行之间的液晶面板呈镜像排布,如果彩膜基板和阵列基板对位不准确,相邻两行中的液晶面板中的彩膜基板相对于阵列基板向不同方向偏移,这样就难以判断液晶面板的中的彩膜基板和阵列基板的偏移方向。这对制程的监控与解析是一大障碍。

发明内容

本发明所要解决的技术问题为如何监控彩膜基板和阵列基板之间的装配精度。

针对上述技术问题,本发明提出了一种液晶面板组件,其包括:第一基板,包括多个第一子基板,用于与第一基板相贴合的第二基板,包括与第一子基板一一对应设置的多个第二子基板,其中,每一所述第一子基板的板面上设置有主刻度,每一所述第二子基板的板面上设置有副刻度,主刻度和副刻度相配合能测量出第一子基板与其对应的第二子基板之间在横向上的偏移量。

在一个具体的实施例中,主刻度的刻度间距大于副刻度的刻度间距,主刻度的刻度间距与副刻度的刻度间距之差小于副刻度的刻度间距,在第一子基板与其相对应的第二子基板完全对齐时,主刻度和副刻度的原点相互对齐。

在一个具体的实施例中,副刻度的原点在主刻度的原点后的第n根刻度线到第n+1根刻度线之间,并且副刻度上在原点后的第m根刻度线最先与主刻度上的一根刻度线重合时,按下述算式来计算偏移量y,

a为主刻度的分度值,

b为主刻度的刻度间距,

c为副刻度的刻度间距。

在一个具体的实施例中,所述第一基板上的第一子基板沿横向排列成多行,相邻两行的第一子基板的呈镜像排列,所述第二基板上的第二子基板沿横向排列成多行,相邻两行的第二子基板的呈镜像排列,在副刻度上还设置有用于指示所述偏移量的偏移方向的第一标记,所述第一标记均设置在副刻度的原点在横向上的同一侧。

在一个具体的实施例中,所述副刻度上还设置有设置在副刻度原点背离第一标记一侧的第二标记。

在一个具体的实施例中,所述第一标记和所述第二标记中的一个为“-”号,另一个为“+”号。

在一个具体的实施例中,主刻度的原点设置在主刻度的中部,副刻度的原点设置在副刻度的中部。

在一个具体的实施例中,主刻度和副刻度的颜色不相同。

在一个具体的实施例中,副刻度上的刻度线长于对应的主刻度上的刻度线。

在一个具体的实施例中,第一子基板和第二子基板中的一个为彩膜基板,另一个为阵列基板。

由于第一子基板的板面和第二子基板的板面上依次设置有均沿横向排列的主刻度和副刻度,当主刻度和副刻度相配合能测量出第一子基板与其相对应的第二子基板之间在横向上的偏移量,由此解决了上述技术问题。

附图说明

在下文中将基于实施例并参考附图来对本发明进行更详细的描述。其中:

图1为本发明的一种实施例中的第一基板的结构示意图;

图2为本发明的一种实施例中的第二基板的结构示意图;

图3为本发明的一种实施例中的主刻度的示意图;

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