[发明专利]一种传感器线性校正方法和装置

说明书

技术领域

本发明实施例涉及电子器件校正技术领域，尤其涉及一种传感器线性校正方法和装置。

背景技术

测量系统中经常需要采用线性传感器件，线性传感器元件如霍尔传感器，磁阻传感器等，这些线性传感器件虽然在理论上为理想的线性关系，但在实际应用的过程中由于受到电气以及结构的影响会导致实际应用过程并非理想的线性，因而导致测量系统的精度降低。

现有技术中并未对此种现象做进一步处理，测量系统的测量精度和稳定性低下的问题亟待解决。

发明内容

本发明提供一种传感器线性校正方法和装置，以提高传感器校正过程精度，从而提高测量系统的准确度。

第一方面，本发明实施例提供了一种传感器线性校正方法，该方法包括：

采用传感器对至少二个标准测量物进行测量，以获取对应的校正测量数据；

建立各标准测量物的实际数据与校正测量数据的对应关系，分别将相邻两个校正测量数据作为一个校正区间；

通过所述传感器对待测量物进行测量，以获取对应的实时测量数据，并确定所述实时测量数据落入的校正区间；

根据所述落入的校正区间内的校正测量数据和与其相对应的实际数据的线性关系，结合所述实时测量数据计算待测量物的实际数据。

优选地，采用传感器对至少二个标准测量物进行测量，以获取对应的校正测量数据包括：

对至少二个标准测量物中的每个标准测量物，采用所述传感器测量至少两次，以获取所述每个标准测量物相对应的至少两个备用测量数据；

对所述至少两个备用测量数据计算均值，以获取所述每个标准测量物各自对应的校正测量数据。

优选地，采用传感器对至少二个标准测量物进行测量，以获取对应的校正测量数据之前，还包括：

对所述传感器的初始值采集至少两次，以获取初始值均值。

优选地，采用传感器对至少二个标准测量物进行测量，以获取对应的校正测量数据包括：

对所述至少二个标准测量物中的每个标准测量物，采用所述传感器测量至少两次，以获取所述每个标准测量物对应的至少两个备用测量数据；

分别计算所述至少两个备用测量数据与初始值均值的差值，以获取所述每个标准测量物对应的至少两个备用阶跃数据；

对所述至少两个备用阶跃数据计算均值，以获取每个标准测量物各自对应的校正测量数据。

优选地，建立各标准测量物的实际数据与校正测量数据的对应关系，分别将相邻两个校正测量数据作为一个校正区间之后，还包括，将各所述标准测量物的实际数据与校正测量数据的对应关系进行记录作为校正参数表。

优选地，根据所述落入的校正区间内的校正测量数据和与其相对应的实际数据的线性关系，结合所述实时测量数据计算待测量物的实际数据包括：

从校正参数表中调取与所述落入的校正区间对应的校正参数；

根据落入的校正区间内的校正测量数据和与其相对应的实际数据的线性关系，结合所述校正参数和实时测量数据计算待测量物的实际数据。第二方面，本发明实施例还提供了一种传感器线性校正装置，该装置包括：

校正测量数据获取模块，用于采用传感器对至少二个标准测量物进行测量，以获取对应的校正测量数据；

校正区间划分模块，用于建立各标准测量物的实际数据与校正测量数据的对应关系，分别将相邻两个校正测量数据作为一个校正区间；

校正区间确定模块，用于通过所述传感器对待测量物进行测量，以获取对应的实时测量数据，并确定所述实时测量数据落入的校正区间；

校正模块，用于根据所述落入的校正区间内的校正测量数据和与其相对应的实际数据的线性关系，结合所述实时测量数据计算待测量物的实际数据。

优选地，所述校正测量数据获取模块包括：

备用测量数据获取单元，用于对至少二个标准测量物中的每个标准测量物，采用所述传感器测量至少两次，以获取所述每个标准测量物相对应的至少两个备用测量数据；

校正测量数据计算单元，用于对所述至少两个备用测量数据计算均值，以获取所述每个标准测量物各自对应的校正测量数据。

优选地，所述装置还包括初始值均值获取模块，用于对所述传感器的初始值采集至少两次，以获取初始值均值；

所述校正测量数据获取模块包括：

备用测量数据获取单元，用于对所述至少二个标准测量物中的每个标准测量物，采用传感器测量至少两次，以获取所述每个标准测量物对应的至少两个备用测量数据；