[发明专利]一种传感器线性校正方法和装置

权利要求书

1.一种传感器线性校正方法，其特征在于，该方法包括：

采用传感器对至少二个标准测量物进行测量，以获取对应的校正测量数据；

建立各标准测量物的实际数据与校正测量数据的对应关系，分别将相邻两个校正测量数据作为一个校正区间；

通过所述传感器对待测量物进行测量，以获取对应的实时测量数据，并确定所述实时测量数据落入的校正区间；

根据所述落入的校正区间内的校正测量数据和与其相对应的实际数据的线性关系，结合所述实时测量数据计算待测量物的实际数据。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，采用传感器对至少二个标准测量物进行测量，以获取对应的校正测量数据包括：

对至少二个标准测量物中的每个标准测量物，采用所述传感器测量至少两次，以获取所述每个标准测量物相对应的至少两个备用测量数据；

对所述至少两个备用测量数据计算均值，以获取所述每个标准测量物各自对应的校正测量数据。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，采用传感器对至少二个标准测量物进行测量，以获取对应的校正测量数据之前，还包括：

对所述传感器的初始值采集至少两次，以获取初始值均值。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，采用传感器对至少二个标准测量物进行测量，以获取对应的校正测量数据包括：

对所述至少二个标准测量物中的每个标准测量物，采用所述传感器测量至少两次，以获取所述每个标准测量物对应的至少两个备用测量数据；

分别计算所述至少两个备用测量数据与初始值均值的差值，以获取所述每个标准测量物对应的至少两个备用阶跃数据；

对所述至少两个备用阶跃数据计算均值，以获取每个标准测量物各自对应的校正测量数据。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，建立各标准测量物的实际数据与校正测量数据的对应关系，分别将相邻两个校正测量数据作为一个校正区间之后，还包括，将各所述标准测量物的实际数据与校正测量数据的对应关系进行记录作为校正参数表。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，根据所述落入的校正区间内的校正测量数据和与其相对应的实际数据的线性关系，结合所述实时测量数据计算待测量物的实际数据包括：

从校正参数表中调取与所述落入的校正区间对应的校正参数；

根据落入的校正区间内的校正测量数据和与其相对应的实际数据的线性关系，结合所述校正参数和实时测量数据计算待测量物的实际数据。

7.一种传感器线性校正装置，其特征在于，该装置包括：

校正测量数据获取模块，用于采用传感器对至少二个标准测量物进行测量，以获取对应的校正测量数据；

校正区间划分模块，用于建立各标准测量物的实际数据与校正测量数据的对应关系，分别将相邻两个校正测量数据作为一个校正区间；

校正区间确定模块，用于通过所述传感器对待测量物进行测量，以获取对应的实时测量数据，并确定所述实时测量数据落入的校正区间；

校正模块，用于根据所述落入的校正区间内的校正测量数据和与其相对应的实际数据的线性关系，结合所述实时测量数据计算待测量物的实际数据。

8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述校正测量数据获取模块包括：

备用测量数据获取单元，用于对至少二个标准测量物中的每个标准测量物，采用所述传感器测量至少两次，以获取所述每个标准测量物相对应的至少两个备用测量数据；

校正测量数据计算单元，用于对所述至少两个备用测量数据计算均值，以获取所述每个标准测量物各自对应的校正测量数据。

9.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述装置还包括初始值均值获取模块，用于对所述传感器的初始值采集至少两次，以获取初始值均值；

所述校正测量数据获取模块包括：

备用测量数据获取单元，用于对所述至少二个标准测量物中的每个标准测量物，采用传感器测量至少两次，以获取所述每个标准测量物对应的至少两个备用测量数据；

备用阶跃数据计算单元，用于分别计算所述至少两个备用测量数据与初始值均值的差值，以获取所述每个标准测量物对应的至少两个备用阶跃数据；

校正测量数据计算单元，用于对所述至少两个备用阶跃数据计算均值，以获取每个标准测量物各自对应的校正测量数据。

10.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述装置还包括校正参数记录模块，用于将各所述标准测量物的实际数据与校正测量数据的对应关系进行记录作为校正参数表；

所述校正模块包括：

校正参数调取单元，用于从校正参数表中调取与所述落入的校正区间对应的校正参数；

校正计算单元，用于根据落入的校正区间内的校正测量数据和与其相对应的实际数据的线性关系，结合所述校正参数和实时测量数据计算待测量物的实际数据。