[发明专利]多孔质体、蜂窝过滤器、微结构解析方法及其程序、以及微结构解析装置有效

专利信息
申请号: 201710207683.1 申请日: 2017-03-31
公开(公告)号: CN107261648B 公开(公告)日: 2021-02-26
发明(设计)人: 坂井文香;坂下俊;惣川真吾;田岛裕一 申请(专利权)人: 日本碍子株式会社
主分类号: B01D39/20 分类号: B01D39/20;C04B38/00
代理公司: 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 代理人: 钟晶;陈彦
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 多孔 质体 蜂窝 过滤器 微结构 解析 方法 及其 程序 以及 装置
【权利要求书】:

1.一种多孔质体,

其在生成基于包含所述多孔质体的表面的区域的三维扫描而得到的多孔质体数据,并使用该多孔质体数据进行下述步骤(a)~(c)时,所导出的表层厚度Ts和所述多孔质体的气孔率P满足下述式(1),

P≧0.54Ts (1)

其中,0%<P<100%且0μm<Ts,表层厚度Ts的单位为μm,气孔率P的单位为%,

所述多孔质体数据是使表示体素的位置的位置信息与体素类别信息对应起来的数据,所述体素类别信息包含能够区分该体素是表示空间的空间体素还是表示物体的物体体素的信息,

步骤(a):设定与存在于所述多孔质体的表面的至少一个物体体素相接的假想表面;

步骤(b):将与所述假想表面相接的空间体素以及从所述假想表面在与该假想表面垂直且朝向所述多孔质体的内侧的厚度方向上朝向所述多孔质体的内侧连续的空间体素确定为表层直孔体素;

步骤(c):使所述假想表面向所述厚度方向偏移,将直孔开口率初次成为98%以下时的假想基准面确定为表层区域开始面,将所述直孔开口率初次成为1%以下时的假想基准面确定为表层区域结束面,导出该表层区域开始面与该表层区域结束面在所述厚度方向上的距离即表层厚度Ts,其中,直孔开口率是所述表层直孔体素占偏移后的假想表面即假想基准面的比例,

所述气孔率P如下导出:气孔率P=(多孔质体数据中下述厚度的区域的空间体素的数量)/(多孔质体数据中下述厚度的区域的全部体素的数量)×100%,所述区域为从流入面至流出面之间的区域中除距离流入面侧为厚度T的1/6厚度的区域和距离流出面侧为厚度T的1/6厚度的区域之外的区域,即厚度T的4/6厚度的区域。

2.根据权利要求1所述的多孔质体,其满足下述式(2),

P≧0.63Ts (2)。

3.根据权利要求1或2所述的多孔质体,其中,25%≦P≦70%。

4.一种蜂窝过滤器,其具备隔壁,所述隔壁具有权利要求1~3中任一项所述的多孔质体且形成成为流体流路的多个孔格,

所述多孔质体的表面构成所述流体从所述孔格流入所述隔壁的流入面。

5.一种微结构解析方法,其为使用基于包含多孔质体表面的区域的三维扫描而得到的多孔质数据的微结构解析方法,所述多孔质数据是使表示体素位置的位置信息与体素类别信息对应起来的数据,该体素类别信息包含能够区分该体素是表示空间的空间体素还是表示物体的物体体素的信息,

该微结构解析方法包含如下步骤:

步骤(a):设定与存在于所述多孔质体的表面的至少一个物体体素相接的假想表面;

步骤(b):将与所述假想表面相接的空间体素以及从所述假想表面在朝向所述多孔质体的内侧的预定的厚度方向上连续预定数量以上的空间体素确定为表层直孔体素,或者,将从所述假想表面在朝向所述多孔质体的内侧的预定的厚度方向上连续预定数量以上的空间体素确定为表层直孔体素;以及

步骤(c):导出表层厚度Ts,该表层厚度Ts是基于确定的所述表层直孔体素所存在的区域而决定的表层区域在所述厚度方向上的长度。

6.根据权利要求5所述的微结构解析方法,在所述步骤(c)中,使所述假想表面向所述厚度方向偏移,将直孔开口率成为预定的第1开口率时的假想基准面确定为表层区域开始面,将与该表层区域开始面相比更靠所述假想表面侧处不包含于所述表层区域而导出所述表层厚度Ts,其中,该直孔开口率是所述表层直孔体素占偏移后的假想表面即假想基准面的比例。

7.根据权利要求6所述的微结构解析方法,其中,

所述第1开口率是小于100%且为97%以上的任一值。

8.根据权利要求5~7中的任一项所述的微结构解析方法,在所述步骤(c)中,使所述假想表面向所述厚度方向偏移,将直孔开口率成为预定的第2开口率时的假想基准面确定为表层区域结束面,将与该表层区域结束面相比在所述厚度方向上更靠多孔质体的内侧处不包含于所述表层区域而导出所述表层厚度Ts,该直孔开口率是所述表层直孔体素占偏移后的假想表面即假想基准面的比例。

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