[发明专利]一种适用于光学测量系统的外标校用靶标及其使用方法

权利要求书

1.一种适用于光学测量系统的外标校用靶标，其特征在于：包括靶标基体(1)；在所述标靶基体(1)上设置有锥窝(2)、标示图(3)、标示图定位孔(5)；所述标示图(3)设置在靶标基体(1)正中，以标识图定位孔(5)为中心定位点；激光跟踪仪靶球(4)放置在锥窝(2)内；在所述基体(1)的各边沿还均布有安装孔(6)，用于靶标的安装固定。

2.根据权利要求1所述的一种适用于光学测量系统的外标校用靶标，其特征在于：在所述基体(1)上设置有4个锥窝(2)，并相对标示图定位孔对称设置在基体(1)的四周。

3.根据权利要求1所述的一种适用于光学测量系统的外标校用靶标，其特征在于：所述锥窝(2)的开口为90°。

4.一种适用于光学测量系统的外标校用靶标的使用方法，其特征在于：所述靶标为权利要求1至3任一所述的靶标；使用方法包括以下步骤：

1)通过安装孔精确定位靶标的位置；

2)通过测量放置在90°锥窝(2)中的激光跟踪仪靶球(4)来推算出靶标中心点相对坐标值；

3)将得到的靶标坐标值输入至全视角高精度三维测量仪系统中，通过空间交会测量原理进行三维坐标解算，得到一系列靶标测量点相对测量仪的坐标值，从而完成大面积装备上控制点的测量。

5.根据权利要求4所述的一种适用于光学测量系统的外标校用靶标的使用方法，其特征在于：所述步骤2)具体采用精密仪器精确测量出靶标上各锥窝(2)中心点的坐标值(x1,y1,z1)、(x2,y2,z2)、(x3,y3,z3)和(x4,y4,z4)，再根据下式推算获得靶标上标示图(3)中心点的空间坐标值(x,y,z)：

x＝(x1+x2+x3+x4)/4；

y＝(y1+y2+y3+y4)/4；

z＝(z1+z2+z3+z4)/4；

然后将的到的标示图(3)中心点的空间坐标值(x,y,z)输入至全视角高精度三维测量仪系统中，通过空间交会测量原理进行三维坐标解算，得到一系列靶标测量点相对测量仪的坐标值，从而完成大面积装备上控制点的测量。