[发明专利]一级轻气炮铜网测速装置在审

专利信息
申请号: 201710200613.3 申请日: 2017-03-30
公开(公告)号: CN106950395A 公开(公告)日: 2017-07-14
发明(设计)人: 唐恩凌;韩雅菲;王睿智 申请(专利权)人: 沈阳理工大学
主分类号: G01P3/66 分类号: G01P3/66
代理公司: 沈阳火炬专利事务所(普通合伙)21228 代理人: 李福义
地址: 110159 辽*** 国省代码: 辽宁;21
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一级 轻气炮铜网 测速 装置
【说明书】:

技术领域

发明涉及一级轻气炮弹丸测速装置技术领域,具体而言是一种一级轻气炮铜网测速装置。

背景技术

一级轻气炮作为气体炮的一种,最高可获得1000m/s的弹速,它不仅可以发射各种形状弹丸,而且对弹丸材料、质量和尺寸有较宽的适用范围,更重要的是同一速度的可重复性好,这为评价侵彻诱发的毁伤提供了极为有利的条件,是目前高速弹丸驱动中应用最广泛的技术之一。

目前,国内一级轻气炮的测速装置主要有两种:(1)电磁测速:当金属弹丸经过电磁线圈时, 穿过弹丸的磁通量发生变化, 在弹丸内部会激发感生电流,由感生电流产生的磁场引起原磁场的变化,根据这一原理用电磁测速装置结合示波器进行测速。该方法的优点是:结构简单,成本低,精度高;该方法的缺点是:弹丸必须为金属类导体材料,否则无法产生感生电流,另外弹丸体积过小时,感生电流的磁场不能引起原磁场的明显变化,测试信号不能准确读取。(2)遮断式激光测速:激光测速优点是精度高,适用范围广;缺点是结构复杂,成本较高,并且当弹丸体积过小偏离轴线时无法遮断光束导致测速失败。

针对以上现有测速技术存在的问题,有必要提供一种具有新颖性和创造性的装置。

发明内容

本发明提供一种一级轻气炮弹丸测速装置,以此来解决目前国内一级轻气炮的测速装置存在的成本高,结构复杂,对弹丸材料尺寸有特殊要求等弊端。

本发明是通过以下技术方案来实现的:一级轻气炮铜网测速装置,包括铜网、支架、底座、导线、爆速仪。

所述底座水平方向设置,所述底座上焊接有两个支架,且两个支架相互平行按垂直方向放置;

两个支架上均设置有铜网,每个铜网均呈弓字型缠绕在支架上,每个铜网上下端的引线通过导线连接到爆速仪的断靶模式上,构成两个回路;

所述爆速仪上设置有液晶屏。

作为一种优选的技术方案,所述支架和底座均为金属材料制成。

作为一种优选的技术方案,所述铜网材料为直径0.2mm的漆包铜线,线端除掉绝缘漆。

作为一种优选的技术方案,所述铜网缠绕间距根据弹丸结构及尺寸确定。

作为一种优选的技术方案,所述导线为屏蔽线,导线设置为4根。

作为一种优选的技术方案,所述爆速仪为具有通断选择模式的爆速仪。

与现有技术相比较,本发明的有益效果在于:本发明提供一种一级轻气炮铜网测速装置,该装置对弹丸材料无特殊要求,适用于不同材质不同尺寸弹丸,结构简单,成本低,制作维修方便,每次只需更换铜网即可,使用方便;测量精度高,可靠性好。

附图说明

图1为一级轻气炮铜网测速装置的结构示意图。

图中序号说明:1铜网;2支架;3底座;4导线;5爆速仪。

具体实施方式

下面结合附图和具体实验例对本发明作进一步的详细说明,便于清楚的了解本发明,但它们不对本发明构成限定。

结合图1所示:一级轻气炮铜网测速装置,包括铜网1、支架2、底座3、导线4、爆速仪5;

所述底座3水平方向设置,所述底座3上焊接有两个支架2,且两个支架2相互平行按垂直方向放置;

两个支架2上均设置有铜网1,每个铜网1均呈弓字型缠绕在支架2上,每个铜网1的上下端的引线通过导线4连接到爆速仪5的断靶模式上,构成两个回路;

作为一种优选的技术方案,所述支架2和底座3均为金属材料制成;底座3要求底面积足够大,以保证放置支架2的稳定。

作为一种优选的技术方案,所述铜网1材料为直径0.2mm的漆包铜线。

作为一种优选的技术方案,所述铜网1缠绕间距根据弹丸结构及尺寸确定,要保证弹丸穿过时断开三根以上铜网1,以免影响弹道轨迹。

作为一种优选的技术方案,所述导线4为屏蔽线,导线4设置为4根。

作为一种优选的技术方案,所述爆速仪5为具有通断选择模式的爆速仪5。

本发明一级轻气炮铜网测速装置的测速原理为:将铜网1以一定间距呈弓字型缠绕两个平行且垂直设置的支架2上,并用导线4将铜网1与爆速仪5连接,构成两个回路;当弹丸以一定速度穿过前铜网时,前铜网断开,产生电压脉冲并通过导线传输到爆速仪5,爆速仪5接收到前铜网断开的电压脉冲信号时开始计时,并显示在爆速仪的液晶屏上;当弹丸穿过后铜网时,后铜网断开,同样传输电压脉冲信号到爆速仪5,爆速仪5停止计时,此时爆速仪5上的液晶屏会显示计时时间T;弹丸速度V为前后铜网的距离H与计时时间T之间的比值,即:V=H/T。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于沈阳理工大学,未经沈阳理工大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201710200613.3/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top