[发明专利]开槽零件尺寸测量方法有效
申请号: | 201710191728.0 | 申请日: | 2017-03-28 |
公开(公告)号: | CN106840006B | 公开(公告)日: | 2023-07-21 |
发明(设计)人: | 刘红;王超;姚江伟;张云江;付胜楠;刘海梅;曹昆武 | 申请(专利权)人: | 核工业理化工程研究院 |
主分类号: | G01B11/08 | 分类号: | G01B11/08 |
代理公司: | 北京润捷智诚知识产权代理事务所(普通合伙) 11831 | 代理人: | 安利霞 |
地址: | 300180 *** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 开槽 零件 尺寸 测量方法 | ||
本发明公开了一种开槽零件尺寸测量方法,包括均通过紧固螺钉安装于测长仪的测量杆上的一对测量具组件,所述测量具组件包括过盈连接的测帽和测头。本发明安装在测长仪的测量杆上,直接接触测量被测零件的开槽部位外径,实现该类零件开槽尺寸接触式精密测量,比较现有的测量方法,测量值更加准确,测量范围更大,工作效率更高。
技术领域
本发明属于一种尺寸测量方法,具体涉及一种开槽零件尺寸测量方法。
背景技术
目前有些开槽零件外径尺寸的测量,虽然有的测量器具能够进行测量,但是量具测量精度较低,且不能精确调整零件的轴线方向与量具测量面的垂直度,因此达不到精密检测要求。
对于外面缠有其它材料的被测金属零件,在被测截面要求精确测量该位置金属部分外径,开槽宽度限定很窄的情况下,去掉上述缠绕材料后,进行测量,目前采用非接触式测量方法,利用万能工具显微镜或者影像测量仪。测量时,将零件被测位置置于仪器视场内,聚焦被测直径边缘,得出测量值,上述非接触式测量方法有如下弊端:存在系统误差,由于圆形尺寸,特别是较大圆形尺寸边缘轮廓,经过光路成像后有较大散射,影像不很清晰准确,测量误差较大;存在人为误差,测量人员在调焦过程中,不同的人员存在视差,因此测量结果存在人为误差;视场不清晰,如果有开槽时未清理干净的碎屑,测量时影像不清晰,影响聚焦,因此不能准确的完成测量。
发明内容
本发明是为了克服现有技术中存在的缺点而提出的,其目的是提供一种开槽零件尺寸测量用具。
本发明的技术方案是:
一种开槽零件尺寸测量用具,包括均通过紧固螺钉安装于测长仪的测量杆上的一对测量具组件,所述测量具组件包括过盈连接的测帽和测头。
所述测帽为中间形成阶梯孔的圆柱形结构,阶梯孔大孔端端面形成圆台,大孔端中段外壁一侧形成凸起,另一侧形成半圆型凸弧,凸起上形成沿径向设置的螺孔。
所述凸起的上端面为圆弧面,两侧面为相互对称的两个平面,且两侧面均与上端面所在圆相交,与测帽外壁所在圆相切。
所述阶梯孔的大孔端内径与测量杆外径小间隙配合。
所述测头由阶梯轴状连接部和由连接部大径段端面对称中心线圆弧过渡成薄片形状的测量部组成。
所述测量部的薄片处的厚度为小于被测开槽尺寸的宽度,薄片处的长度大于开槽尺寸的深度。
所述连接部小径段外径与阶梯孔小孔端内径过盈配合。
本发明的有益效果是:
本发明安装在测长仪的测量杆上,直接接触测量被测零件的开槽部位外径,实现该类零件开槽尺寸接触式精密测量,比较现有的测量方法,测量值更加准确,测量范围更大,工作效率更高。
本发明不同于现有的非接触式测量方法,避免了由于零件边缘轮廓,经过光路成像后有较大散射,影像不很清晰,还有,对于外面缠有其他材料,且开槽宽度很窄,开槽后缠绕材料的碎屑不易清理干净,影响测量聚焦,导致测量尺寸误差较大的问题,通过测量具的薄片部分对开槽零件进行接触测量,测量中能够调整零件轴线与测头的垂直,能精确调整至最大直径位置,实现了开槽部位外径尺寸的接触式精密测量方法,能够测量任意轴向和径向指定位置的直径尺寸,提高测量准确度和测量效率。
附图说明
图1是本发明一种开槽零件尺寸测量用具使用状态示意图(俯视图);
图2是本发明一种开槽零件尺寸测量用具使用状态示意图(主视图);
图3是本发明一种开槽零件尺寸测量用具的俯视图;
图4是本发明一种开槽零件尺寸测量用具的主视图;
图5是本发明中测帽的主视图;
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